電路板做高（gāo）溫低濕試（shì）驗的必要（yào）性
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發布日（rì）期： 2021.01.08
近日（rì）小編在朋友圈裏閱讀過一（yī）篇“高溫低（dī）濕試驗的必（bì）要性”的文章，覺得文章的內容（róng）非常實用，也可以幫助各位用戶解決一（yī）些（xiē）實際（jì）問題，現（xiàn）如今整理一下分享給大家。
1）低濕試驗的失效機理；
2）對電路板而言，高溫低濕試驗是否可以取（qǔ）消，或者直接用現有的高溫高濕測試取代？
3）哪些場景高溫低濕試驗是不能被高溫高濕取代的？
相信長時間接觸環（huán）試行業（yè）的朋友都清楚，我們在做測試的時候常用的是相對（duì）濕度，對低濕度（dù）測試的了（le）解甚（shèn）少。這裏草莓视频网站儀器小編就（jiù）先說一下“低濕”，這個目前沒找到具體的數值定義，有說20%RH以下是低濕，有說10%RH以（yǐ）下是低濕，這裏（lǐ）對數值不討論，先暫定20%RH以（yǐ）下的濕度為低濕（如果大家有相關標準定義的數值請留言分享），因為目前大部分恒（héng）溫恒濕試驗箱（高低溫濕熱試驗箱）不（bú）加除濕（shī）幹燥箱也能做到（dào）20%RH/40℃。我們知道現（xiàn）實世界中通常是存在高溫低（dī）濕的環境的，例如MIL-STD-810H明確統計了一些幹燥地區的相（xiàng）對濕度，能達到3%RH左右，而ASHRAE的機房標準也提到了8%RH的低（dī）濕環境；如果需要測試這就需要特（tè）殊的除濕箱進行低濕（shī）測試了。
1、低濕試驗的失效機理；
很多人都知道（dào）低濕（shī）環境很容易產生靜電，根據IEC61000-4-2的（de）描述如下張圖，隨著濕度降低，產生的靜電（diàn）等級會逐漸升高，這裏（lǐ）也交（jiāo）代下ESD測（cè）試中空氣放電15Kv的由來，當濕度為10%RH時，根據下麵曲線對（duì）應的靜電等級為15Kv。
在某低濕測試溫箱廠家的文章裏麵提到了一些醫療消毒設備尤（yóu）其需要做低濕測試，因為低濕會（huì）增加細菌和病毒的傳播（bō）和生存能（néng）力，解（jiě）釋了下冬（dōng）季流感的主要原因不是因為寒（hán）冷而（ér）是因為低濕（這裏（lǐ）因（yīn）為我沒有醫（yī）療設備相關經（jīng）驗，如果有錯誤還請指正）？
2、對電路板而言，高（gāo）溫低濕試驗是否可以取消，或者直接用現有的高溫高濕測試取（qǔ）代？
我們討論一（yī）個測試能不能被其他測試取代，首先出發點就是看失效機理是（shì）不是相同。這（zhè）兩個測試都是高溫條件，而（ér）810H隻（zhī）提（tí）到了（le）高溫測試的失效（xiào）機理，並未（wèi）區分低濕和高濕對於電路板的影響；根據Peck溫（wēn）濕度加速模型如下可知，濕度越高，加速因子越大，也就是說高濕相對低濕能（néng）更快（kuài）的暴露電子產品存（cún）在的問（wèn）題，如電遷移，腐蝕，電介質擊穿，錫須生長等；如（rú）果按照這個理論是完全可（kě）以用高溫高濕取代高溫低濕的測試，這裏有人可能會說那靜電呢？
明確（què）一下這裏的電路板指的是測（cè）試自行運行過程中不會受靜電幹擾的電路板，例如筆記本或手機或服務器放在溫箱裏測試，因為沒（méi）有人為接觸和其他幹擾（rǎo）就可以不必考慮靜電對其造成的影（yǐng）響；而實際使用過程中因為人體放電的靜電影（yǐng）響，這些產品都會有單獨的ESD測（cè）試，所以不必擔心（xīn），因為沒有發現其他（tā）失效機理，所以這裏感（gǎn）覺是可以用高溫高濕測試取代高溫低濕；
補充：這個理論並非一定正確，隻是一個嚐試，因為（wéi）在從業的這些年沒有發現一起電路板失效是直接相關於高溫低濕的，絕大部分是強相關於高溫高濕；而如果能取代能夠有2個好處，一個（gè）是項目進度，目前（qián）能做到5%RH低濕的箱子很少，預定很麻煩，另外成本，一個低濕箱子（zǐ）市麵上不管是設（shè）備價格還是測試價格差不多（duō）都是普通高濕箱子的1.5倍左右。
3、哪些場景高（gāo）溫（wēn）低濕試驗是（shì）不能被高溫高濕取代的？
目前已知打（dǎ）印機應該還是需要進行高溫低濕測試（shì），因為實際測（cè）試時打印機在溫箱中也在工作，而打印機本身在打印時也會產生靜電，會影響其內部（bù）電子元器件的正常工作（zuò），另外裏麵的油墨等（děng）也會受低濕（shī）的影響；另外正常風扇軸承裏的潤滑油也（yě）會受低濕影響，但影響基本忽（hū）略不計...
備（bèi）注：因為哪些材料會明確受（shòu）低濕影響並未有相關文件統計，而高溫低濕的失效機理也沒有明確的文章澄清，如果實際工作也沒有（yǒu）足夠的產品返修數據支撐，如果擔心測試（shì）過程（chéng）中沒有低濕會漏掉將來（lái）實際可（kě）能中遇到的失效，條（tiáo）件允許的情況下還是建議繼續進行高（gāo）溫低濕測試~
文章選自Andy的可靠性筆記（jì）
