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典型案例(lì):鍍層表麵劃傷之鹽霧試驗電化(huà)學腐蝕(shí),造(zào)成(chéng)非質量誤判

作者: salmon範 編(biān)輯: 草莓视频网站儀器 來源: www.tuyatang.com 發布日期: 2019.06.24

    1、樣品背景

    生(shēng)產廠家對產品(pǐn)進行(háng)過鹽霧摸底試(shì)驗,結果(guǒ)合格。但用戶單位在進行 鹽霧(wù)試驗驗證時,樣品卻存在嚴重的(de)腐蝕現象,失效(xiào)樣品外觀形貌見圖1。
失效樣品外觀形貌

    2、外觀檢查

    失效樣品的殼體(tǐ)及引出線表麵存在較多(duō)的(de)劃傷,腐蝕點大部分處於鍍層劃傷部位,並且失效樣品的標誌部分脫落,典型形貌見圖2~圖4所示。
典型形(xíng)貌

    3、鍍(dù)層厚度測量

    采用(yòng)X射線熒光(guāng)測厚儀(yí)對失(shī)效樣品的殼體、引出(chū)端(duān)表麵進(jìn)行鍍層厚度測量,發現劃傷部位的鍍層厚度尤其是金層明顯減薄(通常鍍金層要求≥1.27μm),詳見表1。
對腐蝕區域及良好(hǎo)區域分(fèn)別進行能譜比對分析

    4、掃描電子顯微鏡檢查及(jí)能譜分析

    掃描顯微鏡對失效(xiào)樣品表麵(miàn)進行檢查和分析發(fā)現,失效樣品的(de)殼體表麵存在較多的劃傷(shāng),有的劃傷甚至暴露了(le)底材金屬,見圖5~圖6;對腐蝕區域及良好區域分別進行能(néng)譜比對分析,結果見圖7~圖8。

底材金屬

掃描電子顯微鏡檢查(chá)及能譜分(fèn)析1

掃描電子顯微鏡檢查及能譜分析(xī)2

    5、綜合分析(xī)

    以上分(fèn)析結果表明,失(shī)效樣品殼體、引出端鍍層表麵存在比較(jiào)嚴重的劃傷現象,並且(qiě)腐蝕主要集中在劃傷區域,說明樣品失效是由於(yú)鍍層表麵受到(dào)損(sǔn)傷,導致在鹽霧試驗過程中,鹽氣中(zhōng)的氯離子直(zhí)接通過鍍層損傷區域,與內部金屬發(fā)生了電化學(xué)反(fǎn)應,引起了腐蝕。同時,氯離子具有一定的水合能,易被吸附(fù)在金屬表麵,取代金屬的氧化層中的氧,使金屬受到破壞。針孔腐蝕到本底金屬腐蝕,內部(bù)體積逐漸增大導致鍍層腐蝕進一步延伸。
    通(tōng)過進(jìn)一步了解(jiě)產品的生產(chǎn)工(gōng)藝和試驗過程,生(shēng)產廠家次做(zuò)鹽霧試(shì)驗時,樣品是采用托盤獨立包裝,使得每隻樣品的(de)鍍層表麵有良好的保護(hù),而郵寄給用戶單位時的試驗樣(yàng)品采用5個一組的包裝方式(未用托盤),導致樣品之間相互摩擦和劃傷,破壞了表麵鍍層,導致在鹽霧(wù)過程中腐蝕失(shī)效。重新對生(shēng)產廠家庫存的同批次產品抽樣進行鹽霧試驗,均未見(jiàn)異常。由此可知,包裝(zhuāng)是導(dǎo)致產品鍍層腐蝕失效的主要原因。
    包裝運輸以及樣(yàng)品傳遞是檢測中容易忽略的一(yī)個細節,應采取適宜的保(bǎo)護措施,避免產品額外損傷,造成非質(zhì)量的誤判。

原文來自:技術遊俠——電子元器件物理可靠性檢測(cè)與評價
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本文標簽: 鹽霧試驗驗

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