電信終端產品在高低溫(wēn)環境下運行或存儲之試驗方法
作者:
salmon範
編輯:
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來源:
www.tuyatang.com
發布日期: 2019.06.14
測試目的:驗證被測終端在高低溫環境下運行或存儲的環(huán)境適應能力
測試儀器:
高低溫試驗箱(xiāng)、
冷熱衝擊試驗箱 技(jì)術參數:
1) 高溫存(cún)儲:70±2℃ 試驗時(shí)間(jiān):48H(溫度穩定後開始計算);
2) 低溫存儲:-40±2℃ 試驗時間:48H(溫度穩定後開始計算);
3) 溫度衝擊存儲:溫度在-40±2℃/60±2℃之間交替,10個循環;
4) 高溫工作:50±2℃ 試驗時(shí)間:24H(溫度(dù)穩定後開始計算);
5) 低溫工作:-20±2℃ 試驗(yàn)時間:24H(溫度穩定後開始計算);
6) 高(gāo)溫高濕工作:溫度40±3℃,濕(shī)度93±3% 試驗時間:24H(溫(wēn)濕度穩定後開始計算)。
預置條件:被測終端功能完好,外觀正常。
測試步驟
1) 在常溫(wēn)下對被測終(zhōng)端進(jìn)行外觀(guān)、功能檢查;
2) 將被測終端關機(jī)狀態放進高低溫試驗箱,
高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到70±2℃溫度,溫度達到穩定後(hòu)持續存儲48小時;
3) 將被測終端從試驗(yàn)箱取出(chū)在常溫中恢複2小時後,進行外觀、裝配、功能檢(jiǎn)查,要求外觀、裝配、功(gōng)能與測(cè)試前無明顯差異;
4) 在常溫下對被測(cè)終端進行外觀、功能檢查(chá);
5) 將被測終端關機狀態放進高低溫試驗箱,高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率(lǜ)從常溫下降到-40±2℃溫度,溫度達到(dào)穩定後持續存儲48小時(shí);
6)
將被測終端從試(shì)驗(yàn)箱取出在常溫中恢複2小時後,進行外(wài)觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異;
7) 在常溫下對被測(cè)終端進行外觀、功能檢查;
8) 將樣機關(guān)機狀態放進冷熱衝擊試驗箱,樣機先在-40℃環境(jìng)下存儲1小時,在5分鍾之內,溫度上升到60℃存儲1小時,此為一個循環。樣機共測試(shì)10個循環;
9) 將被測終(zhōng)端從試驗箱取出在常溫中恢複2小時後,進行外觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異;
10) 在常溫下對被測終端進行外觀、功能檢查;
11) 將待測樣機開機狀態,插入用戶卡,T-flash卡放進高低溫試驗箱,其中(zhōng)一台樣機(jī)插上充電器,另(lìng)一台樣機(jī)使用電池供電開機;
12)
高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常(cháng)溫上升到設定的溫度,溫度達到(dào)穩定(dìng)後持續(xù)24小時;
13)
將樣機從試(shì)驗箱取出在(zài)常溫中恢複2小時(shí)後,進(jìn)行(háng)外(wài)觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與(yǔ)測試前無明顯差異,因電池(chí)沒電導致的無法開機(jī)不算(suàn)故障,可充電後再進行檢查;
14) 在常(cháng)溫(wēn)下對被(bèi)測終端進行外觀、功能檢(jiǎn)查;
15) 將待測樣機開機狀態(tài),插入用戶卡,T-flash卡放進高低溫(wēn)試驗(yàn)箱(xiāng),其中一台樣機插上充(chōng)電器,另一台樣機使用電池供電開機。
16)
高低溫試驗箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從(cóng)常溫上升到設定(dìng)的溫(wēn)度,濕度設定為標準(zhǔn)要求的濕度,溫濕度達到穩定後持續24小時;
17) 將樣機從試驗(yàn)箱取出在常溫中恢複2小時後,進行外觀、裝(zhuāng)配、功(gōng)能檢查,要求外觀、裝配、功能與測試前無(wú)明(míng)顯差異,因電池沒電導致(zhì)的無法開機不算故障,可充電(diàn)後再進行檢查。
預期結果
1) 步驟3後,被測終端外觀無明顯變化,基(jī)本功能正常;
2) 步驟6後,被(bèi)測終端外觀無明顯變化,基本功能正常;
3) 步驟9後,被測終端外觀無明顯變(biàn)化,基本功(gōng)能正常;
4) 步驟13後,被測終端外觀無明顯變化,基本功能正常;
5)
步驟17後,被測終端外觀無明顯變化,基本功能正常(cháng).
備注:
高低溫試驗箱共4台,分為兩組,兩組並行測試,每組內的測試項串行(háng)測試:
組:高溫存儲、低溫存儲(chǔ)、溫(wēn)度衝擊;
第二組:高溫工作、低(dī)溫工作、高溫高濕。