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電子產品高加速壽命試驗(yàn)方法

作者: salmon範 編輯: 瑞(ruì)凱儀器 來源: www.tuyatang.com 發布日期: 2020.04.27

    0、引言

    高加速壽命試驗(HALT:Highly Accelerated Life Test)技術是目前國際上比較流行的可靠性試(shì)驗技術,它的優點是根據被測產品的自身特點及(jí)產品的使用環境,由研發人員設定出適合該產(chǎn)品的試驗參數(shù),從而(ér)提高了試驗效率。HALT試驗尤(yóu)其適用於使用PCB板的電子產品。

    1、試驗目的及(jí)工作原理

    1.1試驗目的
    傳統的可靠(kào)性試(shì)驗及環境適應性試驗並(bìng)不能確定產品工作極限條件,而(ér)HALT試驗通過不斷(duàn)修改試驗參數(shù),由記錄表來確定產品的操作極限和破壞極限。試驗中不斷增加(jiā)的應力遠大於正常使用條件的環(huán)境應力,使得產品的缺陷可以(yǐ)在較(jiào)短的時間內暴(bào)露,節約了試驗時(shí)間。由於電(diàn)子產(chǎn)品基本符合浴盆曲(qǔ)線(xiàn)原理。在產品的早期將故障暴露後,設計人員可以分析故障產生(shēng)的原(yuán)因,這對元器件的選型及原理(lǐ)設計都(dōu)具(jù)有(yǒu)指(zhǐ)導意義。
    1.2 工作原理
    HALT試(shì)驗(yàn)一般分為低溫步進試(shì)驗、高溫步進試驗、快速熱循環試驗、振動步進試驗、溫(wēn)度(dù)與(yǔ)振(zhèn)動(dòng)綜合試驗(yàn)。需要注意的是,快速熱循環試(shì)驗(yàn)和溫度與振動綜合試驗的條件確定需要低溫步進(jìn)試驗、高溫步進試驗和振動試驗的相關數據作為邊界條件(jiàn)。

    2、試驗方法

    2.1低溫步進試驗
    電子產品進行HALT試驗時,樣品通常處於通電狀態,如有需要可以(yǐ)通過其他設備監控樣品的(de)工作狀態。一(yī)般情(qíng)況(kuàng)下設定起始溫(wēn)度為20 ℃,每(měi)階段降溫10℃( -30℃以後(hòu)步進步長改變(biàn)為5℃),每個(gè)階段保持一段時間,通常為10 min,溫度穩定後做一次功能測試,以此類推直到樣品發生功能(néng)故障,繼續降低溫度(dù),直到產品失效並不可恢複,由此(cǐ)來確定低溫操作極(jí)限和破壞極限,如圖1。
    2.2高溫步進試驗

    試驗時樣品(pǐn)處於通電狀態,設定起始溫度為20℃,每階段升溫10 ℃( 120 ℃以後步進步長改變為5℃),每個階段維持10 min,溫(wēn)度穩定後做一次功能(néng)測試,以此類推(tuī)直(zhí)到樣品發生功能故障,繼續增加溫度,直到(dào)產品(pǐn)失效並不可恢複,由此來確定高溫操作(zuò)極限和破壞極限(xiàn),如圖2。


低溫步進試驗

    2.3快速熱循環試驗

    在先(xiān)前的試驗中可以得到低溫及高溫的極限數據值,將這(zhè)兩個極限值作為熱循環的(de)上(shàng)下(xià)極限(xiàn)值,並以1℃/s的溫度變化率在此區間內進(jìn)行若千(qiān)個循環。在每個循環的高溫極限和低溫極限都要保持一段時間(jiān),通常選擇:10 min,溫度穩定觀察測試產品功能,直到樣品發生故障,由此來確定操作極限和破壞極限,如圖3。


快速熱循環試驗

    2.4振動(dòng)步進試驗

    將(jiāng)試驗的加速度初始值設(shè)定為(wéi)5g,然後每階(jiē)段增加5g,在每個(gè)階段維持10 min並做功(gōng)能檢測,直到樣品發生功能故障,繼續增加加速(sù)度值,直到(dào)產品不可恢複,以此來確定樣品的振動操作界限,如圖4。本試驗對振動台(tái)架及產品夾具的要求較高,試驗中應注意夾具的狀態。


振動步進試驗

    2.5溫度(dù)與振動綜合試驗

    HALT試驗將溫變與振動同時施加於被測樣品上,相比(bǐ)於傳統的老化試驗,老化的(de)效果更明顯。溫度變化的上下極限與溫度變化的速率與快速熱循環試驗相同。一般(bān)選取振動的初始值為5g,每個(gè)循環加速度(dù)增加(jiā)5g。每個階段(duàn)的高低溫極限值保持10 min,待溫度穩定後觀察樣(yàng)品的功能。如此重複進行,直至達到操作極限及(jí)破換極限為止,如圖5。


溫度與振動綜合試驗

    3、結論

    HALT試驗不僅能確定產品的極限應力,而且(qiě)能夠快速地找出設計缺陷並改進,大大縮短了(le)試驗時間和研製周期,非常適合電子產品的研發。由於HALT試驗不同於傳統(tǒng)的環境試驗,沒有(yǒu)規定的試(shì)驗標準,因此它(tā)具有一定(dìng)的開放性,設計人員可以根據產品的實際(jì)情況對試驗條件進行修改,相信HALT試驗在電子產品的開發上會發揮(huī)越(yuè)來越重要的作用。
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