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電子及電氣元件溫度衝擊試驗（yàn）方法

作者： salmon範編輯（jí）：草莓视频网站儀器來源： www.tuyatang.com 發布日期： 2020.08.21

    1、引言
    1.1目的
    確定元件暴露於（yú）高低溫極值下，以及高低溫極值交替衝擊下所具有的抗禦能力。
    1.2 應用
    試驗樣品的（de）失效數應以後檢測為依據。
    2、試驗條件
    2.1極值溫度及循環次數

見（jiàn）表1。

極值溫度（dù）及循環次數-1

極值（zhí）溫度及循（xún）環次（cì）數-2

2.2 極值溫度下的試驗時間（jiān）

見表2

極（jí）值（zhí）溫度下的試驗時間

    3、對試（shì）驗設備的要求
    3.1 高低溫衝擊試驗箱應能提供第2章表1所規定（dìng）的極（jí）值溫度條件。
    3.2 高（gāo）低溫衝擊試驗箱應符合GJB360. 1-87《電子及電（diàn）氣元件試驗方法總則》第（dì）4.4條a的規定。
    3.3試（shì）驗（yàn）箱應有足夠的熱（rè）容量（liàng），以（yǐ）便試驗樣品放人試驗箱後，在（zài）5min內工作（zuò）空間就能達所規定的溫度值。
    3.4試驗樣品的安裝和支撐架的導熱率應低，以保證試驗樣品與安裝和支撐架間處於一種絕（jué）熱（rè）狀態。
    4、試驗程序
    4.1初（chū）始檢測
    在（zài）試（shì）驗的標準大（dà）氣條件下，按有關標準的規定對試驗樣品（pǐn）進行外觀檢查（chá）和性能檢（jiǎn）測。
    4.2試驗樣品的安裝
    試驗樣品的（de）安裝由有關標（biāo）準規定，當裝入高低溫衝擊試驗（yàn）箱時，應使氣流暢通無阻地穿過及繞過試驗樣品。
    4.3試驗（yàn）
    4.3.1將試驗樣品（pǐn）置於低溫箱中，此時（shí），低溫箱的溫度已調至表1規（guī）定的極值溫度，並在溫度下按表2規定的時（shí）間進行保溫。
    4.3.2保溫時間到，在5min內將試驗樣品從低（dī）溫箱移至（zhì）高溫箱中。此時，高溫箱的溫度已調至表1規定的極（jí）值溫度，並在（zài）此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
    4.3.3保溫時間到，在5min內將試驗樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時，低溫箱的溫度已調至4.3.1款的極值溫度，並在此溫度下按4.3.1款（kuǎn）的試驗時間進行（háng）保溫。
    4.3.4 按表1規定的循環次數，重複4.3.1至4.3.3款。-次循環包括（kuò）表（biǎo）1中的步驟1至步（bù）驟4。初的5次循環應連續地進行。5次循環後，在任何一次循環完（wán）成之後都可以中斷試（shì）驗。再恢複試驗之前可允許試驗樣品恢複到試驗的標準大氣條（tiáo）件。
    4.4中間檢測
    由有關標準（zhǔn）規定
    4.5 恢複（fù）
    後循（xún）環結束，試驗樣品置於（yú）試驗的標準大氣（qì）條（tiáo）件下達到溫度穩定。
    4.6 後檢測
    按有關標準規定對試驗樣品（pǐn）進行外觀檢查和性（xìng）能（néng）測量。
    5、失效數據
    由（yóu）有關標準規定。
    6、采用本標準時應規定的細則
    a.安裝方法(見（jiàn）4.2條);
    b.以（yǐ）字母為代號的試驗條件(見4. 3. 1.4.3.2及4.3.4款);
    c.初始、中間及後檢測(見4. 1.4.4及4.6條)。

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