如今，隨著科學的進步，電子（zǐ）製造技術也越來越（yuè）發達，其集成集成化程度是越來越高，工序越來越多，結（jié）構也（yě）越來越細微（wēi），製造工藝越來越複雜，錯綜（zōng）複雜的因素勢必會導致在製造過程中潛伏缺陷，作為電子產品競爭廠家，不斷要（yào）保（bǎo）證各性能的高精準性，也要保證其質量的穩定（dìng）性。所以對其做相關測試也是必要的，那（nà）麽為什（shí）麽要做（zuò）老化測試（shì）呢？

    一般這種缺陷需要在元器（qì）件工作於額定功率和（hé）正（zhèng）常工作溫度下（xià）運行一千個小時左右才能全部被激活(暴露)。顯（xiǎn）然，對每隻元器（qì）件（jiàn）測試（shì）一千個小時是不現實的，所以需要對其施加熱應力和偏壓，例如進行高溫（wēn）功率應力試驗，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產品施加熱的、電的、機械的或（huò）多種綜合的外部應力，模擬嚴酷（kù）工作環境，消除加工應力和殘餘（yú）溶（róng）劑等物質（zhì），使潛伏故障提（tí）前出現，盡（jìn）快使產（chǎn）品通過失效浴盆特性初期階段，進入高可靠（kào）的穩定期。