如今，通（tōng）信設備的製（zhì）造廠商，對光電子器件的可靠性要求越（yuè）來越高，光電子（zǐ）器件和通信設備的製（zhì）造廠商之間沒有專門（mén）的、統一的光（guāng）電子器件可靠性試驗方（fāng）法標準，以至於（yú）很難進行有效的溝通，影響產品可（kě）靠性（xìng）的提高。而電子器件可靠性評估是指對電子器件產品、半成品或模擬樣片（各種（zhǒng）測試（shì）結構圖形），通過各種可靠性評價方法，如（rú）可靠性試驗、加（jiā）速壽命試驗和快（kuài）速評價技術等（děng），並運用數理統（tǒng）計工具和有關模擬仿真軟件來評（píng）定其壽命、失效率或可靠性質量等級。下麵，草莓视频网站儀器整理了光電子器件環境（jìng）可靠性的試驗方法供給大（dà）家參考。
    1、高溫貯存
    1.1目的（de）
    確定（dìng）光電子（zǐ）器件能否經受高溫下的運輸和貯存，以保證光（guāng）電子器件經受高溫後能（néng）在規定條件下正常工作（zuò）。
    1.2設備
    試驗設備為能在規定溫度下進行恒溫控製的高低溫試驗箱。
    1.3 條件試驗條件如下:
    貯存溫度：（85±2）℃或貯存溫度；
    貯存時間:2000 h。
    1.4 程序
    按（àn）以下程序進（jìn）行試驗:
    A）試驗前測試試（shì）樣（yàng）的主要光電特性；
    B）把（bǎ）試樣貯存在規定試驗條件的高低溫試驗箱中，在開始計時之前應有足夠升溫時間（jiān），使所有試樣處在規定的溫度下，溫度傳感（gǎn）器應位於工（gōng）作區內溫度的位置處；
    C）在達到規定的試驗（yàn）時（shí）間後，把試樣從試驗（yàn）環境中（zhōng）移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，並對試樣光電特性進行測試。
    1.5檢測
在試驗完成後，應在48h內完成試樣的（de）主要光電特性測試，並進行目檢。當有規定時，也可以在試驗過程中的某些時刻進行測試。
    1.6失效（xiào）判據
    完成試驗後，試樣出現5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之一判為（wéi）失效。
    2、低溫貯存
    2.1目的
    確定光電子器件能否經受低溫下運輸和貯存，以（yǐ）保證光電子器（qì）件經受（shòu）低溫後（hòu）能在規定條（tiáo）件下正常工作。
    2.2設備
    試驗設（shè）備如下:
    能在規定溫度（dù）下進行恒溫控製的高低溫（wēn）試驗箱。
    2.3 條（tiáo）件
    試驗條件如下（xià）:
    貯存溫度:（-40±2）℃或貯存溫度；
    貯存時間:72 h。
    2.4 程序（xù）
    按以下程（chéng）序進行試（shì）驗（yàn）:
    a）試驗（yàn）前測試試樣的（de）主要光電特性；
    b）把試樣（yàng）貯存在規定（dìng）試（shì）驗條件的高低溫試驗箱中，在開始計時之前（qián）應有足夠降溫時間，使所有試（shì）樣處在規定的溫（wēn）度下，溫度傳感器應位於工作區內溫度的位置處﹔
    c）在達到規定的試（shì）驗時間後（hòu），把（bǎ）試樣從試驗環境中移出，放置24 h，使之（zhī）達到（dào）標準測試條件，並對試樣光電特性進行測（cè）試。
    2.5檢（jiǎn）測
    在試驗完成（chéng）後（hòu），48 h內完成試樣的主要光電（diàn）特性測試，並進行目檢。
    2.6失效判據（jù）
    完成試驗後，試樣出現（xiàn）5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之一判（pàn）為失效。
    3、溫度循（xún）環（huán）
    3.1目的
    確定光電子（zǐ）器（qì）件承受高（gāo）溫和低溫的能力，以及高溫和低溫（wēn）交替（tì）變化對光電子器件的（de）影響，保證光電子器件封裝內部的光路（lù）長期機械穩定性。
    3.2設備
    試（shì）驗設備（bèi）如下:
    能在加載負（fù）荷時，熱容量和空（kōng）氣的流量以保證使工作區和試樣達到規定試（shì）驗條件的溫度循環試（shì）驗箱；
    能用來連續監視（shì）工作區溫度變化的溫度指示（shì）器或記錄儀。
    3.3條件
    試（shì）驗條件如下:
    循環溫度:-40℃～＋85℃；
    高、低溫保持時間:15 min；
    循環次數:500次（cì）（非受控環境），或100次（受控（kòng）環境）；
    升降溫速率:10℃/min。
    3.4程序
    按以下（xià）程序進行試驗:
    a）試驗前對試樣的主要光電特性進行測試；
    b）將試樣放置在試（shì）驗箱內，其位置不應妨礙試樣周圍空氣的流動；
    c）試樣在規定條件下連續完成規（guī）定的循環次數，試驗曲線見圖3；
    d）完成（chéng）規定的循環（huán）後，把試樣從試驗箱移出放置24 h，使之達到標準測試條件後進行光（guāng）電特性測試。

    由於電源或設備故障（zhàng）原因，允許中斷試驗。如（rú）果中斷的循環次數超過規定循環的（de）總次數的10%時，不管任何理由，試驗應重新從頭開始進（jìn）行。

溫度循環試驗（yàn）曲（qǔ）線

    3.5檢測
    完成試驗後，在不放大或放（fàng）大不超過3倍情況下，對試樣（yàng）的標誌進行檢驗；在放大10倍~20倍情況下，對外殼引線或密封部位（wèi）進（jìn）行檢驗；並對試樣主（zhǔ）要（yào）光電特性進行測試。
    3.6失（shī）效判據
    完成試驗後，試樣出現5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之一判為失效。
    4、恒定濕熱
    4.1目的（de）
    本試驗的目的是測定光電子器件承受高溫和高濕的能力，以及高溫和高濕對器件的影響程（chéng）度，保證光電子器件的長期可靠性（xìng）。
    4.2設備
    試驗設備為在加載（zǎi）負荷時能為工作區提供和控製規定（dìng）的溫度、濕度（dù）、熱（rè）容量和空氣流量的恒溫恒濕試驗箱。
    4.3 條件
    試驗條件如下:
    溫（wēn）度（dù）:＋85 ℃；
    濕度:85%RH；
    保持時間:500 h（不加偏置）或1000 h（加偏置）；
    規定的偏置電壓或電流（適用時）。
    4.4程序
    按以下程序進行試驗（yàn）:
    a）試驗前（qián）對試（shì）樣的主要光電（diàn）特性（xìng）進行測試；
    b）將試樣放進試驗箱內，其擺放位置不應妨礙試樣四（sì）周空氣的（de）流（liú）動；c）試樣（yàng）在規定條件下連續完成規定的試驗時間。
    5.3.4.5 檢（jiǎn）測
    試樣（yàng）完成試驗後，在室溫環境條件下放置24 h，然後對其主要（yào）光電特性進（jìn）行測試和目檢。測試應和目檢。測試應在移出試驗箱48h內完成。
    在不放大或放大不超過3倍情況下，對試樣的標誌進（jìn）行檢驗（yàn）；
    在放大10倍~20倍情況（kuàng）下，對（duì）外殼引線或密封部位（wèi）進行檢驗。
    4.6失效（xiào）判據
    完成試驗後，試樣出現下列情（qíng）況之一判為（wéi）失效:
    a）標誌全部或部分（fèn）脫（tuō）落、筐色和模糊；
    b）封裝金屬零件的（de）鍍層被腐蝕、起泡和明顯變色；
    c）試樣基（jī）材或外包材（如封帽，引線，封套（tào）等（děng））腐蝕麵積超過5%，或貫穿性（xìng）腐（fǔ）蝕；
    d）引線損壞或部分分離；
    e） 5.2.1.6 b）或c）中（zhōng）規定要求。
    5、抗潮濕循環
    5.1目的（de）
    采（cǎi）用（yòng）溫度和濕度循環來（lái）提供一個凝露和幹燥的交替過程（chéng），使腐蝕過程加（jiā）速，並使密封不良的縫隙“呼吸”進濕氣。即以（yǐ）加速方（fāng）式評估光電子器件在高溫和高（gāo）濕條件下，抗退化效應的能力。
    5.2設備
    試驗設備：快速溫度變化試驗箱，它（tā）能滿足圖4所示的循環條件要求，以及按規（guī）定進行測量的測試儀器（qì）。
    5.3 條件
    試驗條件如下:
    循環:按圖4進行20次連續循環。當有規定時，可進行（háng）10次連續循環；

    偏置電壓:試樣按規定施加偏置電壓（yā）。當有特殊規定時，也可不加（jiā）偏置電壓。

    5.4程序
    按以下程序進行（háng）試驗:
    a）試驗前對試樣的主要光電（diàn）特（tè）性進行測試。
    b）將試樣（yàng）放置在試驗箱內，應使其充分（fèn）暴露在試驗環境中。按規定的條（tiáo）件對試樣進（jìn）行試驗。
    c）完成規定的循環次數之前（不包括後一次循環），如發生了不多於1次的意（yì）外的中斷（duàn）試驗（如電源中斷或設備故障），可重複一（yī）次循環（huán），試驗（yàn）繼續進（jìn）行；若在後一（yī）次循環期間出現意外（wài）中斷，除要求重做該循環外，還要求再進行一次無中（zhōng）斷的循（xún）環；任何中斷時間超過24 h，都需要重新進行試驗。在10次循環中，至少（shǎo）有5次進行低溫子（zǐ）循環。在低溫子循環期間，試樣應在—10℃和不控製濕度的條件下，至少保持3 h。
    d）在低溫子循環（huán）後（hòu），將試樣恢複到25 ℃，相對濕度至（zhì）少為80%，並一直保持（chí）到下一個循環的開始。
    5.5檢測
    試樣完成試驗（yàn）後，在室溫環境條件下放置24 h，然後對其主要光電特性進（jìn）行測試。測試應在移出試驗箱48 h內完成。
    在不放大或放大不超過3倍情（qíng）況下，對試樣的標誌進（jìn）行檢驗；在放大10倍～20倍情（qíng）況下（xià），對外殼引線或密封部位進行檢驗。
    5.6 失效判據
    完成試（shì）驗後，試（shì）樣出現5.3.4.6  A）、B）、C）、E）中情況之（zhī）一（yī）判為失效。
    6、高溫壽命
    6.1目的
    確定光電子器件高溫加速老（lǎo）化失效機理和工作壽命。
    6.2設備（bèi）
    試驗（yàn）設備（bèi）如下:
    能在（zài）規（guī）定溫度下進行恒溫控製並帶有（yǒu）鼓風的高溫烤箱；
    使試樣引出（chū）端在規定電路中有可靠的電（diàn）連接的插座；
    安裝夾具（jù）；
    加載驅動（dòng）的電壓源和/或電流源。
    6.3 條件
    試（shì）驗條件如下:
    試驗溫度:（85±2）℃（組件或模塊），或（huò）（70±2）℃（組件（jiàn）或模塊），或（175±2）℃（光電二極管）；
    工作偏置:正常工作偏置（不（bú）限於）；
    試驗時間:5 000 h（不（bú）限於）。
    6.4 程序
    按以下程序進行試驗:
    a）試驗前應對試樣的主要光電特性進行測（cè）試；
    b）將試樣放進高溫試驗箱內（nèi），並使試樣處於工作狀態；
    c）按照試驗條（tiáo）件開始試驗，記錄起（qǐ）始時間、試（shì）驗溫度和（hé）試樣數量；
    d）使用監視儀（yí）器（qì），從試（shì）驗開始到結束監視試（shì）驗溫度和工作偏置，以保證全部試樣按條件施加應力（lì）；
    e）在中間測試時（shí）將樣品從高溫試驗箱取出，測試完（wán）成後放（fàng）回高溫試驗箱繼續進行試驗。
    6.5檢測
    一般每（měi）168h在常溫下測試一次（cì）光電特性。在測試前應先去掉偏置，然（rán）後冷卻到室溫後進行測試。
    6.6失（shī）效（xiào）判據
    完成試驗後，試樣出現（xiàn）下列情況之一判為失效:
    a)標誌全部或部分脫落、褪色和（hé）模糊；
    b） 5.2.1.6 B）或C）中規定要（yào）求（qiú）。