如今，通信設備的製造廠商，對光電子器件的可靠性要求越來越高，光電子器（qì）件和通信設備的製造廠商之間沒有（yǒu）專門的、統一的光電子器件可靠（kào）性（xìng）試驗方法標準，以至於很（hěn）難進行有效的溝（gōu）通，影響產品（pǐn）可靠性的提高。而電子器件可靠性評估是（shì）指對電子器（qì）件產品、半成品或（huò）模擬樣（yàng）片（各種測（cè）試結構圖形），通過各種可靠性（xìng）評（píng）價方法，如（rú）可靠（kào）性試驗、加速壽命試驗和快速評（píng）價技術等，並運用數理統計工具和有關模擬仿真軟件來評定其壽命、失效率或可（kě）靠性質量（liàng）等級（jí）。下麵，草莓视频网站儀器整理了光（guāng）電子器（qì）件環境可靠（kào）性的（de）試驗方法供給大家參考。
    1、高溫貯存
    1.1目的
    確定光電子器件能否（fǒu）經受（shòu）高（gāo）溫下的運輸和貯存，以保證光電子器件經受高（gāo）溫後能在規定（dìng）條件下正常工作。
    1.2設備
    試驗設備（bèi）為能在規定溫度（dù）下進行恒溫控製的高低溫（wēn）試驗箱。
    1.3 條件試驗條件如下:
    貯存溫度：（85±2）℃或貯存（cún）溫度（dù）；
    貯存時（shí）間:2000 h。
    1.4 程序
    按（àn）以下程序進行試驗:
    A）試驗前測試試樣的主要光電（diàn）特性；
    B）把試樣貯存在規定試驗條件的高（gāo）低溫試驗箱中，在開始計時之前應有足夠升溫時間，使所有試樣處在規定的溫度（dù）下，溫（wēn）度傳感器應（yīng）位（wèi）於工作區內溫度的位置處；
    C）在達到規定的試驗時間後，把試樣從試驗環境中移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，並對試樣光電特（tè）性進行測試。
    1.5檢測
在試驗完成後，應在48h內完成試樣的主要光電特性測（cè）試，並進行目檢。當有規定時，也可以在試驗過程中的某些時刻進行測試（shì）。
    1.6失效判據
    完成試驗後（hòu），試樣出現5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之一判為失（shī）效。
    2、低（dī）溫貯存
    2.1目的
    確定光電子器件能（néng）否（fǒu）經（jīng）受低（dī）溫（wēn）下運輸和貯存，以保證光電子器件經受低溫後能在規定條件下正常工作。
    2.2設備
    試（shì）驗設備如下:
    能在規定溫度下進行恒溫控製（zhì）的高（gāo）低（dī）溫（wēn）試驗箱。
    2.3 條件
    試驗條件如下:
    貯存溫度:（-40±2）℃或貯（zhù）存溫度；
    貯存時間:72 h。
    2.4 程序
    按以下程序進行試驗:
    a）試（shì）驗前測試試樣（yàng）的主要光電特性；
    b）把試樣貯存在規定試驗條件的高低溫試驗箱中，在開始計（jì）時之前應有足夠降溫時間，使所有（yǒu）試樣處在規定的溫度下，溫度傳感器應位（wèi）於工作區內溫度的位（wèi）置處﹔
    c）在達到（dào）規定的試（shì）驗時間後，把試樣從試（shì）驗（yàn）環境中移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，並對試樣光電特性進行測試。
    2.5檢（jiǎn）測
    在試驗完成後，48 h內完成試樣的主要（yào）光電特性測試，並進行目檢（jiǎn）。
    2.6失效判據
    完成試驗後，試樣出現5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之（zhī）一判為失效。
    3、溫度循環
    3.1目的
    確定（dìng）光電子器件承受高溫和（hé）低溫的能力，以及（jí）高溫和低溫交替變化對光電子器件的影響，保證光電子器（qì）件封裝內部的光路（lù）長期機械穩定性。
    3.2設備
    試驗設備如下:
    能在加載負荷時，熱容量和空氣的流量以（yǐ）保證（zhèng）使工作（zuò）區和試樣達到規定試驗條件的溫度循環試驗箱；
    能用來連續監視工作區溫（wēn）度變化的溫度指示器或記錄儀。
    3.3條件
    試驗條件如（rú）下:
    循環（huán）溫度:-40℃～＋85℃；
    高、低溫保持時間:15 min；
    循環次數:500次（非受控環（huán）境），或100次（受控環（huán）境）；
    升降溫速率:10℃/min。
    3.4程序
    按以下程序進行試驗:
    a）試驗前對試樣的主要光電特性進行（háng）測試；
    b）將試（shì）樣放置在試驗箱內，其位置不（bú）應妨礙試樣周圍空氣的流動；
    c）試樣在（zài）規定條件下連續完成規定的循環次數，試驗曲線見圖3；
    d）完成規定的循環後，把試樣從試驗箱移出放置24 h，使之達到標準測試條件後進（jìn）行光電特性測試。

    由於電（diàn）源或（huò）設（shè）備故障原因，允許中斷試驗。如果中斷的循環次數超過規定循環的總次數的10%時，不管任何理由，試驗應重新從頭開始進行。

溫度循環試驗曲線

    3.5檢測（cè）
    完成試驗後，在不放大或放大不超過3倍情況下，對試樣的標誌進行（háng）檢驗；在放大10倍~20倍（bèi）情況下，對外殼引線或密封部位進行（háng）檢驗；並對試（shì）樣主要光電特性進行測試。
    3.6失效判據
    完成（chéng）試驗後，試樣出現5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之（zhī）一（yī）判（pàn）為失效。
    4、恒定濕熱
    4.1目的
    本試驗（yàn）的（de）目的是測定光電（diàn）子（zǐ）器件承受高溫和高濕的能力，以及高溫和高濕對器件的影響程（chéng）度，保證光電子器（qì）件的長期可靠性。
    4.2設備
    試驗設（shè）備為在加載負荷時能為工作區提供和控製規定的（de）溫度、濕度、熱容量（liàng）和（hé）空（kōng）氣流量的恒溫恒濕試驗箱。
    4.3 條（tiáo）件
    試驗（yàn）條件如下:
    溫度（dù）:＋85 ℃；
    濕度:85%RH；
    保持時間:500 h（不加偏置）或1000 h（加偏置）；
    規定的偏置電壓或電流（liú）（適用時）。
    4.4程序
    按以下程序進行試驗:
    a）試驗前對試樣的主要光電特性（xìng）進行測（cè）試；
    b）將試樣放進試驗箱內，其擺放位置不應妨礙試樣四周空氣（qì）的流動；c）試樣在規（guī）定條件下連續完成規定的試（shì）驗（yàn）時間。
    5.3.4.5 檢測
    試樣完成試驗後，在室溫環境條件下放置24 h，然後對（duì）其主要光電特性進（jìn）行測試和目檢。測（cè）試應（yīng）和目檢。測試應在移出試驗箱48h內完成。
    在不放大或放大不超過3倍情況下，對試樣的標誌進行檢（jiǎn）驗；
    在放大10倍~20倍情況下，對外殼引線或密封部（bù）位（wèi）進行檢驗。
    4.6失效判（pàn）據
    完成（chéng）試驗後，試樣出（chū）現下列情況之一判為失（shī）效:
    a）標誌（zhì）全部或部分脫落、筐（kuāng）色和模糊；
    b）封裝（zhuāng）金屬零件（jiàn）的鍍（dù）層被腐蝕、起泡和明顯變色；
    c）試樣基材（cái）或外（wài）包材（如封帽（mào），引線，封套等）腐蝕麵積超過5%，或貫穿性腐蝕；
    d）引線損壞或部分分離；
    e） 5.2.1.6 b）或c）中（zhōng）規定要（yào）求。
    5、抗潮濕循環
    5.1目的（de）
    采用溫度和（hé）濕度循環（huán）來提供一個（gè）凝（níng）露和幹燥的交替過程，使腐蝕過程加速，並使密封不（bú）良的縫隙（xì）“呼吸”進濕氣。即以加速方式評估（gū）光電子器（qì）件在高溫（wēn）和（hé）高濕條件下，抗（kàng）退化效應的能（néng）力。
    5.2設備
    試驗設備：快速溫（wēn）度變化試驗箱，它（tā）能滿足圖4所示的循環條件要求，以及按規定進行（háng）測（cè）量的測試儀器。
    5.3 條件
    試驗條件如下:
    循環:按圖4進行20次連續循環。當有規定時，可進行（háng）10次連續循（xún）環（huán）；

    偏置電壓:試樣按規定施加偏置（zhì）電壓。當有特殊規定時，也可不加（jiā）偏置電壓。

    5.4程（chéng）序（xù）
    按以下程序進行試驗:
    a）試驗前對試（shì）樣的主要光電特性進行測（cè）試。
    b）將試樣（yàng）放置在試驗箱（xiāng）內，應使其充分暴露在試（shì）驗環境中。按規定的條件對試樣進行試驗（yàn）。
    c）完成規定的循環次數之前（不包括後一次循環），如發生了不多（duō）於1次的意外的（de）中斷試（shì）驗（如電（diàn）源中斷或設（shè）備故障），可重複一次循（xún）環，試驗繼續進行；若在後一（yī）次循環期間出（chū）現（xiàn）意外中斷（duàn），除要求重做該循環（huán）外，還要求再進行一（yī）次無中斷的循（xún）環；任何中斷時間超過（guò）24 h，都需要重新進行試驗。在10次循環中，至（zhì）少有5次（cì）進（jìn）行低溫子（zǐ）循（xún）環。在低溫子（zǐ）循環期（qī）間，試樣應在—10℃和不控製濕度的條件下，至少保持3 h。
    d）在低溫子循環後，將試樣恢複到25 ℃，相對（duì）濕度至少為80%，並（bìng）一直保持到下一個循環的開始。
    5.5檢測
    試樣（yàng）完成試驗後，在室溫環（huán）境條（tiáo）件下放（fàng）置24 h，然後對其主要光電特性進行測試。測試應在移出試驗箱48 h內完成。
    在不放大或放大不超過3倍情況（kuàng）下，對試樣的標誌進行檢（jiǎn）驗；在放大10倍（bèi）～20倍情況下，對外殼引線或密封部位進行檢驗。
    5.6 失效判據
    完成試驗後（hòu），試樣出現5.3.4.6  A）、B）、C）、E）中情況之一判為失效。
    6、高溫壽命
    6.1目的
    確（què）定光電子器件（jiàn）高溫加速老化失效機理和工作壽命。
    6.2設備
    試驗設備如下:
    能在規定溫度下進行恒溫控製並帶有鼓（gǔ）風的高溫烤箱；
    使試樣引出端在規定電路中有可靠的（de）電連接的（de）插（chā）座；
    安（ān）裝（zhuāng）夾具（jù）；
    加載驅（qū）動的電壓源和/或（huò）電流（liú）源。
    6.3 條件
    試驗條件如下:
    試驗溫度（dù）:（85±2）℃（組件或模塊），或（70±2）℃（組件或模塊），或（175±2）℃（光電（diàn）二極管）；
    工作（zuò）偏置:正常工作偏置（不限於）；
    試（shì）驗時間:5 000 h（不限於）。
    6.4 程序
    按以下程序進行試驗（yàn）:
    a）試驗前應對試樣（yàng）的主要光（guāng）電特性進行測試；
    b）將試樣（yàng）放進高溫試（shì）驗箱（xiāng）內，並使試樣處（chù）於工作狀態；
    c）按照（zhào）試驗條件開始試驗，記錄起始時間、試驗溫度和（hé）試樣數量；
    d）使用監視儀器，從試驗開始到結束監視試驗溫度和（hé）工作（zuò）偏置，以保證全部試樣按條件施加應力；
    e）在（zài）中間測試時將樣品從高溫試驗箱取（qǔ）出，測試完成後放回高溫試驗箱繼續進行試驗（yàn）。
    6.5檢測
    一般每168h在常溫下測試一次光電特性。在測試前應先去掉偏置（zhì），然後冷卻到室溫後進行測試。
    6.6失效判據
    完成試驗（yàn）後，試樣出現下列情況之一（yī）判為失效:
    a)標誌全部（bù）或部（bù）分脫落、褪色和模糊；
    b） 5.2.1.6 B）或C）中規定要求。