在PCB行（háng）業驗收標準IPC-6012C中，隻有（yǒu）三（sān）個章節的試驗牽涉到可靠性方（fāng）麵的要求，主要是介質耐電壓、濕熱絕緣電阻（MIR）和（hé）熱衝擊（Thermal Shock），前兩者主要評估板材可靠性（xìng），後者（zhě）主要評估電鍍銅可靠性。

    熱衝擊試驗來源於IPC-6012C 3.10.8章節的要求，依照IPC-TM-650 測試（shì）方法2.6.7.2測試，一般常用FR4材料的PCB選用（yòng）條件D，在經過（guò）高（gāo）低溫循環（huán）100次之後，次（cì）高溫電阻和後一次高溫電阻的變化率不（bú）能（néng）超過10%，並且試驗後做顯微剖切（qiē）的鍍覆孔（kǒng）完整（zhěng）性合格。

    IPC定義的熱衝擊（Thermal Shock）試驗，其與封裝業JEDEC的溫（wēn）度循環試（shì）驗（yàn）（TCT）類似，但與JEDEC的熱衝擊試驗（TST）有差異，因為IPC的熱衝擊（jī）試驗（TS）和JEDEC的溫度循環試驗（TCT），都是基於空氣傳熱的，而JEDEC的熱衝擊試驗（TST）是基於液體傳（chuán）熱（rè）的，其溫度（dù）轉換速率遠遠高於空氣傳熱，故如果客戶要求測（cè）試TS時，還是需要確定（dìng）所依據的標準和試驗條件。
    JEDEC原為美國電子（zǐ）工業協會EIA之下屬團體，現已獨（dú）立出來（lái）成為IC封裝業的專門組織，曾就有機IC載（zǎi）板與半導體成品之品檢與可靠度試驗訂（dìng）定（dìng）許（xǔ）多規（guī）範，其涉及到溫（wēn）度循環方麵常見（jiàn）的兩個試驗如下： 

    TCT：參考標準（zhǔn）JESD22-A104E，兩箱式Air to Air溫度循（xún）環試驗(Temperature Cycling Test)，共有13種高（gāo）低溫匹配與4種留（liú）置時間CycleTime(1、5、10、15分鍾)的級別對應，以供用戶參考，如下圖（tú）2和（hé）圖3所示：

    TST：參考標準JESD22-A106B，兩槽式Liquid to Liquid高低溫液體中之循環試（shì）驗，特稱為ThermalShockTest熱衝擊試驗，試驗（yàn）條（tiáo）件如下圖4所示:

    不管（guǎn）是TCT或是TST試驗，其（qí）試驗時間都是很長的，而IST時間明顯小於TCT和TST，常見的溫度循環測試曲（qǔ）線如圖5所示，由圖可以看出，液冷式的（de）TST試驗，高低溫（wēn）轉換速率是的，IST其次，TCT小，而高低溫轉換（huàn）速率越大，其對材料的衝擊也隨之增加，也就更容易失效：

    IST試驗雖然試驗時間短，但其也（yě）有不足（zú）之處（chù），它的高低溫溫差是小的，溫差決定了測試樣品的工作溫度（dù）範圍，溫差（chà）越大，代表樣品能工作在更高或更低的溫（wēn）度，如圖6所（suǒ）示（shì）：

    IST因為測試時間短，溫度轉換速率大（dà），對測試樣品的疲勞老化影響也較大，故可以使試樣早早發生失效，比對圖7的IST失效數據和圖8的    TCT失效數據，可見在相同的條件下，IST試驗很早就發生的失效：