高溫試驗（高溫運行、高溫貯存）的（de）目的是確定軍民用設備、零部件在（zài）常溫條件下儲（chǔ）存和（hé）工（gōng）作的儲存、使（shǐ）用的適（shì）應性及耐久性。確認材料高溫下的性能。

    為能正確觀察與驗證產品在高溫環境下（xià）之熱效應，同時避免因濕度效應影響試驗結果（guǒ），標（biāo）準中（zhōng）對於試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝（zhuāng）、中間檢測、試驗後處理（lǐ）、升溫速度、溫度櫃負載條件、被測物與溫度櫃體積（jī）比等均有（yǒu）規範要求（qiú）。

    高溫（wēn）條件下試件的失（shī）效模式 產品所使用零件、材料在高溫時可能發（fā）生軟化（huà）、效能降低、特性（xìng）改（gǎi）變、潛在破壞、氧（yǎng）化等現象。
    高溫環境對設備（bèi）的主要影響有：
    a. 填充物（wù）和（hé）密封條軟（ruǎn）化或融化；
    b. 潤滑劑粘度降（jiàng）低，揮發加快，潤（rùn）滑作用減小；
    c. 電子電路穩定性下降，絕緣損（sǔn）壞；
    d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學反應等；
    e. 材料膨脹造成機械應力增大或磨損增大。

    參考標準

    IEC 60068-2-2:2007《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方（fāng）法 試驗B：高溫》
    GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
    MIL-STD-810F《環境工程考（kǎo）慮與實驗（yàn）室試驗》
    GJB4.2-83《艦船電子設備（bèi）環境試驗 高溫（wēn）試驗》
    GJB360A-96 電子及電氣（qì）元件試驗方法 方法108高溫壽命（mìng）試驗
    MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
    GJB548A-96 《微電（diàn）子器件試驗方法和程序》
    MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
    SJ/T 10325-92《汽車收放機（jī）環境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗
    SJ/T 10325-92《汽車收放機環境試驗要求和試（shì）驗方（fāng）法》4.2 高溫貯存試驗（yàn）
    GB/T13543-92《數字通信設備（bèi）環境（jìng）試驗方法》
    QC/T 413-2002《汽車電氣設備基本（běn）技術條件》
    YD/T 1591-2009《移動通信手持機充（chōng）電器及接口技術要（yào）求和測（cè）試方（fāng）法》  

    實（shí）驗目的

    為了考察高溫負載對試樣的影響，確定試樣在高溫負載條（tiáo）件下工作的適應性。該實驗一般用（yòng）到 高溫試驗箱。

    實驗原理

    在高溫直流負載條件下，被試樣品會受到高溫應力和電應力的雙向作用，其電性能和內部結構 都會有一定程度的變化。試驗後對被試樣品的電性參數及外觀進行（háng）檢查，就能判斷被（bèi）試樣品抵 抗高溫（wēn）和電流負載的能力。