1、範圍

高度加速的溫度和濕度的試驗是（shì）為評價非可靠（kào）性，密（mì）封包裝的固體在潮濕的環境狀態裝置的用途。它采用外部防護材料（密封材料或蓋章）或沿（yán）外部之間的防護材料以及所通過它通過金屬導體接口。激（jī）活的應力通常（cháng）作為“85℃/85%RH”穩態濕度壽命試驗（JEDEC標準第22號- A101）相同的失效機理。

2、儀器

測試需要一個壓力室保（bǎo）持特定的溫度和相對（duì）濕度持續能力，同時提供（gòng）被測電氣連接的設備（bèi）在指定的偏置配置—— HAST高壓加速老化試（shì）驗箱
2.1控製條（tiáo）件
必須能夠提供（gòng）在斜坡上升的壓力，溫度和相對濕度控製的條件下，和斜坡下降從指定（dìng）的測（cè）試條（tiáo）件。校準記錄（lù）應確認該設備（bèi）避免冷凝（níng）設備上測試下（被測（cè）件）在炎熱的斜坡上升（shēng）和斜坡下（xià）降的熱負荷量和（零DUT的功耗）的條件比50℃。校準記錄應核實（shí），對（duì）於穩（wěn）定狀態（tài）的條件和（hé）熱負荷大，測（cè）試條件下，在3.1內指定的公差維持。
2.2溫度分布
對每個測試周期永久（jiǔ）記錄的溫度曲線，建議，使壓（yā）力的有效性可以驗證。
2.3設備壓力下
HAST高壓加速老化試驗箱必須物理（lǐ）位置，以盡量減少溫（wēn）度梯度。壓力之下裝置應設在不低於（yú）3厘米的內部（bù）腔表麵，絕不能（néng）受到直（zhí）接從加熱器輻射熱。對哪些設備安裝應著眼（yǎn）於盡量（liàng）減少與（yǔ）蒸汽循環幹擾議會。
2.4限度地減少汙染（rǎn）釋放
必須（xū）小心的木板和插座材料的選擇，盡量減少汙染排放和減少退化，由於腐蝕和其他機（jī）製。
2.5離（lí）子汙染
離子汙染測試儀器（卡籠（lóng），測試板，插座，電線儲藏（cáng）容器等），應加以控製，避（bì）免測試（shì）工件。
2.6去離子（zǐ）水
去離子與的1兆歐電阻在室溫下厘（lí）米的水不得使用。

3、測試條件（jiàn）

測試條件包括溫度，相對（duì）濕度，並與電力偏見配置特（tè）定於（yú）設備結合（hé）在一起的時間。
3.1溫度，相對濕度和期限
注（zhù）1：公（gōng）差適用於（yú）整個可用試驗區。
注2：僅供參考.
注3：測試條件適用於任何（hé）臨時外讀數不斷。
注（zhù）4：臨時讀數，設備應退還強調在4.5內指定的時間。
注5：對於部件達到24小時或更短時間內吸（xī）收均衡，加速壽命試驗測試（shì）至少相當（dāng）於1000小時85℃/85%RH相對濕度。對於部分需（xū）要（yào）超過24小時，達到指定的加速壽命試驗條件的平衡，時間應延長，使部分達（dá）到（dào）平衡（héng）。
注6：注意：對於塑（sù）料封（fēng）裝的微電路，它是（shì）已知的有（yǒu）效水分減少玻璃（lí）成型複合轉變溫（wēn）度（dù）。上述（shù）有效玻璃化轉變溫度應力溫度（dù）可能導致失敗的機（jī）製無關的標準85℃/85%RH相對濕（shī）度壓力。
3.2偏置指（zhǐ）南
申請偏見根據以下原（yuán）則：
1）盡 量減少功率損耗。
2）盡可能（néng）管腳偏見。
3） 發（fā）布到金屬片上的差異盡可能（néng）。
4）工作（zuò）範圍 內限度地提高電壓。
注意： .上述指南優先取決於機製和（hé）具體（tǐ）設（shè）備的特性。
5）  以下（xià）兩種類型的偏見可（kě）以用（yòng）來滿足（zú）這些準則，更嚴重者為（wéi）準：
1）  連續偏（piān）差-直流偏（piān）置應（yīng）適用繼續。連續偏見比騎車更嚴重偏差時，模具溫度=*10℃， 比室環境溫度較高或（huò），如果（guǒ）芯片溫度不知（zhī）道當DUT的熱量低於200 mW的。如果DUT的散熱（rè）超過200毫瓦，那麽模具溫度應計算。如果芯片溫（wēn）度超過超過5℃的環境溫度則室以上室周圍的模具溫度升高，應在測試結果的報告，因為失敗的機製，加速包括將受到影響。
2）  循（xún）環（huán）的偏見-直流電壓適用於（yú）被測試的設備應定期與適當的頻率和占空比（bǐ）中斷（duàn）。如果在上述會議廳周（zhōu）圍，△Tja 。超過10℃，然（rán）後循（xún）環偏見，當一個（gè）特定的設備類型溫（wēn）度。上升偏置（zhì）優化配置的（de）結果，將會更重於連（lián）續偏見。由於功耗（hào）的結果往往會推（tuī）動加熱水分遠離死亡，從而阻礙水分有關（guān）的失效機理。循環偏差允許（xǔ）在關閉期間的水分收集裝置的功耗時不會發生的死亡。騎自行車用50%的占（zhàn）空比DUT的偏見，是適合大多數（shù）塑料封裝的微電路。在循環應力期應="2小時在軟（ruǎn）件（jiàn）包”= 2毫米厚的=“30分鍾包"2毫米的厚度。模具（jù）的（de）溫度，在已知的熱阻抗和散熱計算，應當引述的（de）結（jié）果時，它（tā）超過5℃或以上的室環境。
3.2.1選擇和報告
選擇連續或周期性的偏見，以及是否報告的數額（é），其（qí）中片溫度超出（chū）室（shì）環境溫（wēn）度的標準（zhǔn），總結如下表：
炎熱幹燥的環境或（huò）條件，在設備上和電氣裝置冷凝結果應避免，特別是在斜坡上升和斜坡下降。
4.1斜升
到達的時間不得少於（yú）3小時穩定的溫度和相對濕度的條件。
應避免冷凝，確保試驗室（幹球）溫（wēn）度超過在任何時候，濕球（qiú）溫度，而利率上升的坡道，不得高於速度（dù）可以確保任何DUT的溫度不（bú）落後下麵的濕球溫度。
在幹和濕球溫度，應保持這樣的相對濕度不低於（yú）50%顯著加熱後開始點。在幹燥室，會議廳周圍本來可以比這少雨。
4.2緩降
在部分的斜坡向下一個（gè）輕微的正（zhèng）麵（miàn）表（biǎo）壓（約（yuē）104℃折射（shè）率濕球溫度）應足（zú）夠長，以（yǐ）避（bì）免由於測試工件快速減壓，但（dàn）不得超（chāo）過3小時。
在坡道的（de）第二部分從104℃折（shé）射率濕球溫度降低到室溫，應會出現室通風。沒（méi）有時間限製，並迫使（shǐ）該船的（de）冷卻是允許的（de）。
冷（lěng）凝設（shè）備上應避免在坡道（dào）的兩個部（bù）分，確保了試驗室（幹球）溫度超過在任何時候，濕球（qiú）溫度。
緩降應保（bǎo）持成（chéng）型封裝模具（jù）的複合水（shuǐ）分。因此，相對濕度不得低於50%時的斜下的部分， 第1段（duàn）。
4.3測試時鍾
測試時鍾（zhōng）啟動時的溫度和相對濕度達到設定點，在坡道開始下降停止。
4.4偏差
偏差在斜坡上升和斜坡下降的應用是可選的（de）。偏差應核實後加載裝置（zhì），之前的（de）測試時鍾開始。偏置還應（yīng）當驗證測試後時鍾停止，但在設備移離會議廳（tīng）。
注意我們建議限流電阻（s）， 在HAST高壓加速老化試驗箱放在試驗板，以防止（zhǐ）破壞或DUT的短期發（fā）展情況（kuàng）在測試過程中。
4.5讀出（chū）
電氣試驗（yàn）應執行後，沒（méi）有坡道盡頭式後超過48小時。注：中間讀數，設備，應退還內96小時的坡道（dào）盡頭的壓力了。水（shuǐ）分的損失後，從設備，從他們的（de）去除率可減少放（fàng）置在密封防潮袋中的設備（不幹燥劑）。當設備（bèi）放置在（zài）密封袋的“測試窗口（kǒu）鍾”運行在1 /暴露環境的實驗室（shì）設（shè）備率3。因此，測試窗口可以擴展到多達144小時，時間回到應（yīng）力封閉裝置中的水分防袋多達288小時。
4.6處理
適合手應包括用於處理設備，電路板及（jí）固（gù）定裝置（zhì）。汙染（rǎn）控製（zhì）是（shì）很重要的任何高度，加速水分的壓力測試。

5、失效準則

一個設備將被視為失敗的高加速的溫度和（hé）濕度（dù）的測試參數限製，如果超過，或功（gōng）能不（bú）能在名（míng）義和壞在適用的采購文件或數據（jù）表中指定條件的證明（míng）。

6、安全

按照設備製（zhì）造（zào）商—— 草莓视频网站儀器的建議和當地的安全規則。