原理：試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環（huán）境下，加速濕氣（qì）穿過外部的保護層，或沿著金屬和外保護層的（de）分界麵穿透，造成試樣的失效。
    標準：JESD22-110-B
    模（mó）塊設計：無
    設備物料：
    1、控製的環境： 需要在上（shàng）升至特定的（de）測試環境或從特定的環境下降（jiàng）時，保證壓力、溫度和相對濕度的HAST高壓加速老化試驗箱；
    2、溫度曲線記錄（lù）：需要記錄每個測試循環的溫度（dù）曲線，以保證能核實壓力的（de）有效性；
    3、試樣必須位於溫度梯度小處，離內壁至少3cm，不能接觸到熱源的直接輻射加熱； 
    4、減少汙染
    5、去除離子汙染
    6、去離子水
    方法：

    1、溫度，相對濕度和時間

    2、偏（piān）壓方法：
    a)減少功率消耗（hào）
    b)盡量快地交換針偏壓
    c)盡量多地在芯片上分布位差（chà）
    d)在可運（yùn）行的範（fàn）圍內（nèi）盡量加大電壓
    e)以下兩種方法可（kě）以滿足指導方法：
    1)連續偏（piān）壓一直流偏壓需要一（yī）直施（shī）加。當失效溫度比HAST高（gāo）壓（yā）加速老化試驗箱的環境溫度高≤ 10℃ 時，或者加熱損（sǔn）耗小於200mW時失效溫度未知時，連續偏壓比循環偏壓要嚴格的（de）多。當加熱損（sǔn）耗達到200mW，就可以計算失效溫度。如果（guǒ）失效溫度超過（guò）了HAST高壓加速（sù）老化試驗箱溫度5℃，則需要在（zài）結果中記錄失效溫度高於HAST高壓加速老（lǎo）化試驗箱溫度，因為（wéi）產生了加速（sù）失效機理。
    2)循環偏壓-施加在試樣上的直流電壓需要以適當的頻（pín）率進行中斷。如果偏壓（yā）的設置產生（shēng）了HAST高壓加速老化試驗箱溫度（dù）的上升，△Tja，達到10℃，當為了優化特定試樣類型時，循環偏壓要比連續偏壓更為嚴格。能量耗散導致的加熱會造成濕氣的散開，減少和濕氣有關的失效機製。當試樣不發生能量耗散時，循環偏壓在中斷時允許濕氣的進入。50%周期的循環對大多數的塑料封（fēng）裝電路板合適。對≥2mm厚度的需要≤2h，而＜2mm厚度的需（xū）要≤30min。當失效溫度超過壓力倉5℃或更多時，需要用（yòng）知名的熱阻抗和耗散公式來計算失效的溫度。
    3、偏壓的選擇與記錄

    4、測試樣品需要暴（bào）露在特定的（de）溫濕（shī）度以及特定的電偏壓環境下。需要避免試樣過熱，幹燥或者局部加熱（rè）或冷卻。
    5、升
    達到穩定的溫度和相對濕度的時（shí）間不（bú）超過3個（gè）小（xiǎo）時。通過（guò）保證測試（shì）試驗箱內的溫度始終超過濕球溫度計的溫度，來保（bǎo）證不會有水（shuǐ）分凝結。升溫速率也不能太快以至於DUT溫度低（dī）於濕球溫度計（jì）溫度。幹濕溫度計（jì）需要一直記錄溫度，保證在主要的加（jiā）熱開始時，相對濕度在50% 以（yǐ）上。在（zài）幹燥的實驗室內，HAST高壓加速老化試驗箱（xiāng）內環境（jìng）可能（néng）比這還要幹燥（zào）。
    6、降
    階段，稍微（wēi）下降（jiàng）到一（yī）定標準壓力（濕球溫度104℃）需要足夠長的時間保證試樣不產生由於下（xià）降（jiàng）過快導致（zhì）的認為因素。但是也不要超過3個小時。
    第二階段（duàn）的下降時從濕球溫度的104℃到室溫需要讓（ràng）測試箱排出壓力。沒有時間的限製，也可以對容器進（jìn）行強冷。
    下降的部分都不（bú）允（yǔn）許水的凝結，為了保證測試倉的溫度始（shǐ）終超過濕球溫度（dù）計。
    下降（jiàng）時需要保證模塑料封裝硬模的濕度。因此，在段下降的過程中（zhōng），相對濕度（dù）不能小於50%。
    失效判定：
    如果達到（dào）了（le）參量的限製，或者在惡劣的環（huán）境下不能證明其功能性，則判定該試樣在HAST測試中失效。