HAST試驗箱（xiāng）為何（hé）成為集成電（diàn）路IC可靠（kào）性測試的佳選（xuǎn）？
作（zuò）者：
salmon範（fàn）
編輯：
瑞（ruì）凱儀（yí）器
來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2020.06.22
目前，在集（jí）成電路IC領域，環境可靠性（xìng）測試設備主要有高低（dī）溫試（shì）驗箱以及HAST試驗箱。但為什麽HAST試驗箱會成為集成電路IC可（kě）靠性測（cè）試的佳選呢？這由（yóu）於HAST試驗箱結合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護物（wù）料（塑封料或絲（sī）印）或沿（yán）外保護物料與金屬導電層之間界麵滲入，本測試用於（yú）識別封裝內部的失效機製，並且是破（pò）壞性的（de）。
高低溫試驗（yàn）箱可分為高低溫運行測試、高低（dī）溫貯存測試、高低溫交變測試、高低溫循環測試、溫度衝擊測（cè）試等（děng），雖然可測試的項目較多，可測試集成電路IC在不同溫度條（tiáo）件下的（de）使用（yòng）壽命，但（dàn）隻是單一（yī）的溫濕度測（cè）試不（bú）夠精確的測試產品在氣壓下的（de）使用（yòng）情況。而HAST高壓（yā）加速老化測試集溫度-濕度-壓力（非飽和可（kě）調）一體，多方麵測試集成電路IC，評（píng）估產品的失效機製。
高低溫試（shì）驗箱的產品優勢：
1、極（jí）限測試溫度可達300℃，低溫-200℃，電耗低；
2、低溫長（zhǎng）期1000小時以上（shàng）不結霜；
3、可編程控（kòng）製，可（kě）通（tōng）過（guò）互聯網、WIFI、手機APP等監控設備運行情況。
HAST試驗箱（xiāng）的產品優勢：
1、濕度可調式溫度-濕度-壓力一體試驗設備，測試穩定性高；
2、可配置多個測試端口供給用戶產品帶電測試；
3、設備升溫時自（zì）動預排空氣潔淨度，確保（bǎo）箱內純淨度；
4、箱體采用耐高壓設計技術，確保設備、操作人員安全。
