草莓视频网站溫度循環試驗箱-讓電子產品環境使用適能力更可靠
作者：
salmon範
編輯：
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來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2021.06.23
隨著消費電子和汽車電子的蓬勃發展，5G也迎來了商用熱潮，電子（zǐ）技術的升級以及電（diàn）子產品的複雜（zá）程度在不斷（duàn）增加，加上電子產品的（de）使用環境日益嚴酷，元件、產品、係統很難（nán）確保（bǎo）在一定時間內、在一定條件下無故障地執行指定功能的能力或可能性。因此，為了確認電子產品能在這些環境下正常工作，國標、行標都要求產品在環境（jìng）方法（fǎ）模擬一些測試項目。
比如高低溫循環測試
高低溫循環測試是指設定溫度從-50℃保持4個小時（shí）後，升溫到 +90℃，然後，在+90℃保持4個小時，降溫到-50℃，依次做N個循環。
工業級溫度標準為-40℃
~ +85℃，因為溫度循環試驗箱通常會存在溫差，為保證到客（kè）戶端不會（huì）因為溫度偏差導致測試結果不一致，內部測（cè）試建議使用標準溫度（dù）±5℃溫差來測試。
測（cè）試流程：
1、在樣品斷電的狀態（tài）下，先將溫（wēn）度下降到-50℃，保持4個小時；請勿在樣品通（tōng）電（diàn）的狀態下進行低溫測（cè）試，非常重要，因為通電狀態下，芯片本身就會產生（shēng）+20℃以上溫度，所以，在通電狀態（tài）下，通常比較（jiào）容易通過低（dī）溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進行測試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老（lǎo）化測（cè）試，觀（guān）察是否有數據對（duì）比錯誤（wù）。
4、升溫到+90℃，保持4個小時，與低（dī）溫測試相（xiàng）反，升溫過程不斷電，保持芯片內部（bù）的溫度一直處於高溫狀態（tài），4個小時後，執行2、3、4測試步驟。
5、高溫（wēn）和低溫測試分別重複10次。
如果測試過程出（chū）現任何一次（cì）不能正常工作的狀態，則視為測試失（shī）敗。
參考標準：
GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法等。
除了高（gāo）低溫循環測（cè）試，電子產品還可能做的可（kě）靠性測試有恒溫恒濕測試(Temperature
And Humidity test)、交變濕熱測試（Damp Heat, Cyclic test）、低溫存儲測試 (Low Temperature Storage test)、高溫存儲測試（shì） (High Temperature Storage test)、高（gāo）低溫衝擊測試(thermal shock test)、鹽霧測試（Salt Spray Test）、振動測試隨機/正弦(Vibration test)、包裝箱自由跌落測試(Drop test)、蒸氣老化測試(Steam Aging test)、IP等級防護測試（IP
Test)、LED光衰壽命測（cè）試及認證（LED LM80 Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources）等，根據廠商對產品的測試要求選擇。
瑞（ruì）凱儀器研發、生產的溫度循環試驗（yàn）箱、恒溫（wēn）恒濕試（shì）驗箱、冷熱衝擊試驗箱、三綜合試驗箱、鹽霧試驗箱等為電子產品的（de）可靠性測試提（tí）供了解決方案，通（tōng）過模擬自然環境中的溫度（dù）、濕度、海水、鹽霧、衝擊、振（zhèn）動、宇宙粒子、各種輻射等，可以提前判斷產品適（shì）用的可（kě）靠度、失效率、平均無故障間隔。
