草莓视频网站溫度循環試驗箱-讓電子產品環（huán）境使用適能力更可靠
作者：
salmon範
編輯：
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來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2021.06.23
隨著消費電子和汽（qì）車電子的蓬勃發展，5G也迎來了商用熱潮，電子技術的升級以及電子產品的複雜程度在（zài）不斷增加，加上電子產品的使用（yòng）環境日益嚴酷，元件、產品、係統很難確（què）保在一定（dìng）時間內、在一定條件下無故障地執行指定功（gōng）能的（de）能力或可能性。因此，為了（le）確認（rèn）電子產（chǎn）品能在這些（xiē）環境下正常工（gōng）作，國標、行標都要求產品在環境方法模擬一些測試項目。
比（bǐ）如高低溫循（xún）環測試
高低（dī）溫循環測試是指設定溫度從-50℃保（bǎo）持4個小時後，升溫（wēn）到 +90℃，然後，在+90℃保持4個小時，降溫到（dào）-50℃，依次做N個循環。
工業級溫度標準為-40℃
~ +85℃，因為溫度循環試（shì）驗箱通常（cháng）會存在（zài）溫（wēn）差，為保（bǎo）證到客戶端不會因為溫度偏差導致測試結果不一致，內部測試建議使用標準溫（wēn）度±5℃溫差來測試。
測試流程：
1、在樣品斷電的狀態下，先將溫度（dù）下（xià）降到-50℃，保持4個小時；請勿在樣品通電的狀（zhuàng）態下進行低溫測試，非常（cháng）重要，因為通電狀（zhuàng）態下，芯片本身就（jiù）會產生+20℃以上溫度，所以，在通電狀態下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進行（háng）測（cè）試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對（duì）比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試（shì），觀（guān）察是否有數（shù）據對比錯誤。
4、升溫（wēn）到+90℃，保持（chí）4個小時，與低（dī）溫測試相反，升溫（wēn）過程不斷電，保（bǎo）持芯片內部的溫度一直處於高溫狀態（tài），4個小時後，執行2、3、4測試步驟。
5、高溫（wēn）和低溫測試分別重（chóng）複10次。
如果測試過程出現任何一次（cì）不能正常（cháng）工（gōng）作的狀態，則視為測（cè）試失敗。
參考標準：
GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法（fǎ）
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試（shì）驗方法等。
除（chú）了高低溫循環測試，電子（zǐ）產品還可能做的可靠性測試有恒溫恒濕測試(Temperature
And Humidity test)、交變濕熱測試（Damp Heat, Cyclic test）、低溫存（cún）儲（chǔ）測試 (Low Temperature Storage test)、高溫存儲測試 (High Temperature Storage test)、高（gāo）低溫衝擊測試(thermal shock test)、鹽霧測試（Salt Spray Test）、振動測試隨機/正弦(Vibration test)、包裝箱自由跌落（luò）測試(Drop test)、蒸氣老化測試(Steam Aging test)、IP等級防護測試（IP
Test)、LED光衰壽命（mìng）測試及認證（LED LM80 Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources）等，根據廠商對產品的測試要求選擇。
草莓视频网站儀器研發、生產的（de）溫度循環試驗箱、恒溫恒濕（shī）試驗箱、冷熱衝擊試驗箱、三綜合試驗箱、鹽霧試驗箱等為（wéi）電（diàn）子產品的可靠性測試提供了解決方案，通過模擬自然環境中的溫（wēn）度、濕（shī）度、海（hǎi）水（shuǐ）、鹽霧、衝擊、振動、宇（yǔ）宙粒子、各種輻射等，可以提前判（pàn）斷產品適用的可靠度、失效率、平均無故障間隔。
