熱門關鍵詞: 高低溫試驗箱 恒溫恒濕試驗箱 步入式恒溫恒濕實驗室 高壓加速老化試驗箱 冷熱衝擊試驗箱
電子(zǐ)產品在正常使用過程中,其內部的電子元器件如電阻器、電容器、繞組(變壓器(qì)、電感線圈)、半導體器件(尤其是大功率器件)都要消耗電(diàn)能,其中一部分以熱(rè)能的形式向外散發,使設備各個部分的溫度不同(tóng)程度的升高。熱量的傳(chuán)遞方式主要(yào)有三(sān)種:熱傳導、熱(rè)對流和熱輻(fú)射。所有溫度高的部分會對周圍溫(wēn)度(dù)低的部(bù)分發生熱(rè)輻射。當環境溫度較高時,熱輻射不明顯,設備的熱量不(bú)易(yì)散發,會導致設備中元器件的溫(wēn)度升高。當設備的溫度超過絕緣材料所能(néng)承受的溫度時,可能導致(zhì)絕緣材(cái)料(liào)軟化、變形,從而導致爬(pá)電距離和電氣間隙的減小,設備的安全絕緣性能下降或失(shī)效,以至(zhì)引發電擊危險等。另外(wài),過高的溫度還會導致灼傷、引燃、著火等危險。
圖(tú)1是在不同環境溫度(dù)條件下電源適配器(qì)各個測(cè)試點的發(fā)熱溫度的曲線圖,其(qí)中橫坐標為環境溫度,共有6個數據點,對應著6檔環境溫度(dù),分別為(wéi)+20℃、+25℃、+30℃、+35℃、+40 ℃和+45℃;縱坐標為各(gè)測試點溫度,表示各測試點在不同環境溫度下穩定的發熱溫度。圖1中不同的曲線代表著適配器(qì)各測試點(diǎn)的發熱溫度隨環(huán)境(jìng)溫度的變化趨(qū)勢。其中下方的(de)曲線為(wéi)高低(dī)溫濕熱試驗箱環境溫(wēn)度實測(cè)值。圖1中表格中的數據為圖中曲線各統計點的縱向坐標值。例如:代表電解電容溫度的(de)曲線在橫坐標1號統(tǒng)計數據點,環境溫度為+20℃檔(實(shí)測環境溫度為21.71℃時),測得的發熱溫度為65.82℃。即此數據格(gé)對應從(cóng)圖1中由上向下數第三條曲線上的點的縱坐(zuò)標值為65.82℃。
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