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提高多端口微波器件(jiàn)測試效率之高低(dī)溫(wēn)試(shì)驗

作者: salmon範 編輯: 草莓视频网站儀器 來源: www.tuyatang.com 發布日期: 2019.07.27
    在采用網絡分析儀測試多端(duān)口微波器件時,測(cè)試過程中(zhōng)需要更換測試電纜和DUT不同(tóng)端口之間的連接。如用兩端口矢量網絡分析儀測量雙工器,除了次連接以外,在測試過程中還需要變換兩次連接,測(cè)試(shì)者要另外做出四次(cì)連接動作(兩次接電纜,兩次接測試(shì)負載),然後再對儀器進行手動操作測試(shì)。在大批量生產情況下,這種傳統測試方法的測試效率較低,測試成本(běn)較高;尤其是高(gāo)低溫試驗時,傳統的測試方法(fǎ)無(wú)法滿足需求。
    本文討論了一種自動化測(cè)試方法的實踐——通過開關矩陣和自動化測試軟件(jiàn)來快速地完成(chéng)雙工器的大批量高低溫試驗。
問題的來源
    本文所討論(lùn)的問題(tí)來自數百隻雙工器的 高低溫試驗,要求被測雙工器(qì)在-30°C和+60°C的高低溫試驗箱裏各放(fàng)置60分鍾,用矢量網(wǎng)絡分析(xī)儀測試其S參數,出(chū)廠要求100%全檢。
    圖1為雙(shuāng)工(gōng)器的電原理圖,其中TX/RX/ANT分別為發射/接收/天線端。雙工器的測試指標包括ANT至TX之間、ANT至RX的插入損耗,TX和RX之間的隔離,以及三個端口的(de)駐波。
    首先我們采用了傳統方法(fǎ)進行高低溫試(shì)驗,表1顯示了(le)測試流程和花費(fèi)時間。

    表1. 傳統的高(gāo)低溫試驗方法及耗(hào)時

表1. 傳統的(de)高低溫(wēn)試驗方法及(jí)耗時

    按照傳統的工藝流程,每隻雙工器的高低溫試(shì)驗需要耗時約3小時40分鍾,無論如何,這樣一天隻能完成3隻雙工器的高(gāo)低溫試驗,如果是100隻,需要花費33個工作日,這顯(xiǎn)然是不可接受的(de)。

    多端口微波器件的高效率測試解決方案

    常溫測試方法介紹

    我們采用2×N的全開關矩陣(zhèn)來擴展矢量網(wǎng)絡分析儀的測試端口,以適應多端口微波器件的測試。
    圖2顯示了采用2×6開關矩陣進行雙工器測試的係統連接圖,其中網絡分析儀通過開關矩陣後變成了“6端口”。采用開關矩陣後,測試參考(kǎo)麵延伸至六(liù)條測試電纜的端口,開機後(hòu),首先對整個係統進行校準,自動(dòng)化測試軟件可以記錄並保存每個通路的校準值,並在測試過程中調用;連接好被(bèi)測件後,根據產品標(biāo)準的要求設置好測試條件,然後點擊“開始”鍵,軟件會自動完成(chéng)整(zhěng)個測試過程並生成測試報告(gào)。
    通過自動化測試(shì)軟件的指令(lìng),可以自動切換不同的測試通路,依次完成雙工器1和雙工器2的(de)各項指標(biāo)的測試,而不需要手動(dòng)更換電纜和測試端口。

    圖2. 采(cǎi)用開關矩陣進(jìn)行雙工器的自動化測試

圖2. 采用開關矩陣進行雙工器的自動化測試

    采用圖2的自動化測試係統,完成校(xiào)準、測(cè)試條件設置後(hòu),測試一隻雙工器隻要花費幾秒鍾時間,常溫條件下(xià),一天可以完成200-300隻(zhī)雙工器的測試,相比兩端口網絡分析儀直接測量法(fǎ),測試效率至少提高了五倍。同時測試精度也是與采用矢量網(wǎng)絡分析儀是一致的。

    表2. 自動(dòng)化測試係(xì)統(tǒng)的高低溫試驗方法及耗時(shí)

表2. 自動化測試係統的高低溫試驗(yàn)方法及耗時(shí)

    按照自動化測試的工藝流程,八隻雙工(gōng)器的高低溫試驗需要耗(hào)時約2小時51分鍾,這樣一天至少可以完成24隻雙工器的高低溫(wēn)試驗,如果是100隻,隻需要花費4.2個工作日,這比傳統的工藝流程測試效率提高了8倍。
    按照上(shàng)述實驗方法,我們總共完成了500隻雙(shuāng)工器的高低溫及常溫的測試(shì),花了不到(dào)20天時間。根據高低溫試驗箱的容量以及開關矩陣的通路數,測試效率還可以進一步提(tí)高(gāo)。

    實測結果

    常溫測試結果

    圖5顯示了(le)采用圖2的方法對一(yī)個雙工器的常溫測試結(jié)果。

圖4a.ANT-TX通路損耗

圖5a.ANT-TX通路損耗

圖4b.ANT-RX通路損耗

圖5b.ANT-RX通路損(sǔn)耗

圖4. 雙工(gōng)器的常溫測試結果
圖5. 雙工器的常溫測試結果
    低溫測試結果
    圖6顯示(shì)了采用圖3的方法對一個雙工器的低溫測試結果。


圖6a.ANT-TX通路損(sǔn)耗

圖5b.ANT-RX通路損耗

圖6b.ANT-RX通路損耗

圖5. 雙(shuāng)工(gōng)器的低溫測(cè)試結果

圖6c. 駐波(bō)
圖6. 雙工器的低(dī)溫測試結果
    高溫測試結果

    圖7顯示了采用圖3的方法對一個(gè)雙工器的高溫測試結果。

圖7a.ANT-TX通路損耗

圖7a.ANT-TX通路損耗

圖7b.ANT-RX通路損耗

圖7b.ANT-RX通路損耗(hào)

圖(tú)7. 雙工器的高溫(wēn)測試結果

圖7c. 駐波
圖7. 雙工器的高溫測試結(jié)果
    作為自動化測試軟件的(de)另一個優點,所有測(cè)試數據都可以被(bèi)保存和溯源,這為各類微波器(qì)件(jiàn)在通信係統中的應用提供了可靠的技術保障。

    結論

    本文討論了一個非常具有實用意義的測試方法,通過實際應用,我們可以得出以下結(jié)論:
    1.采用開關(guān)矩(jǔ)陣(zhèn)可以大大提(tí)高矢量網絡分析儀的測試效率。
    2.本(běn)文(wén)所描述的測試方法適用於生產線的大(dà)批量測試,將會大大提高測試效率、降低測試(shì)成本。
    3.本文所描述的測試(shì)方法十分適用於各類多(duō)端口微波器件的高低溫試驗。
    4.采用開關矩陣的測試精度和直接測量法是一致的(de)。
    5.采(cǎi)用自動化測試軟件,可以對(duì)被測件的數據進行保存(cún),方便溯源。
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本文(wén)標簽: 高低溫試驗 高低溫試驗箱

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