微電子器（qì）件老化篩選測試流程
作者：
salmon範
編輯：
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來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2020.12.01
1、流程（chéng）
艦船通用微（wēi）電子器（qì）件的老化篩選項月，一般（bān）都與個或多個故障模代有關。所以其（qí）老化篩選的順（shùn）序大有講究，本文（wén）推（tuī）薦的艦船通用微電子器件老化篩選順序（流程）是：
常溫初測、低溫測試、高溫測試、高低（dī）溫衝擊（jī）動態（tài）老化/高溫存（cún）儲（chǔ）檢漏常溫終測這裏的/是條件或。即如果已做（zuò）動態老化，高溫存儲可省：如果由於條件限製做不了動態老化，那麽可用高溫存儲（chǔ）作補償性篩選。
2、技術條（tiáo）件（jiàn）和方法
2.1常溫初/終測
2.1.1條件
檢測的環境溫度：23℃±2℃
確保被檢器件在檢測的環境溫度下已保持30min。
2.1.2方法
在（zài）有能力檢測（cè）被測器件（jiàn）的測試係統上，按器件數（shù）據（jù）手冊的（de）技術要求檢測（cè）器件是否滿足規定的各項指標（biāo）要求。一般，這些（xiē）測試係統需要經過認（rèn）可/計確認，測試軟件經過認可/計量確認。
2.2低溫測試
2.2.1條（tiáo）件
檢測的（de）環境溫度：工作Tmin ±3℃
確保被檢器件在檢測的環境溫度下已保持120min。
2.2.2方法
在有能力檢（jiǎn）測被測器件的測試（shì）係統（tǒng）上，按器件數據於冊（cè）的技術要求檢測器件（jiàn）是否（fǒu）滿足規（guī）定的各項指標要求。一般，這些測試係統需要經過認可/計量確認，測試軟件經過認可/計量確認。
2.3高溫測試
2.3.1條件
檢測的環境溫度：工作Tmax±3℃
確保被檢器件在檢測的（de）環境溫度下已保持120min。
2.3.2方法
在有能力檢測被測器件的測試係統（tǒng）上（shàng），按器件數（shù）據手冊的技（jì）術要求檢測器件是否滿足規（guī）定的務項指標要求。一般（bān），這些測試係統蓿要經過認可/計量確認（rèn），測試軟件經過認可/計量確認。
2.4高（gāo）低溫衝擊
2.4.1條件
衝擊低溫：存儲/工作 Tmin ±3℃
衝擊高溫：存儲/工（gōng）作 Tmax
±3℃
衝（chōng）擊保持時（shí）間：30min。
衝擊交（jiāo）替時問：<3min。
衝擊交替次數：5次。
2.4.2方法
2.4.2.1 .二箱法
本方法使用兩箱（xiāng）式冷熱衝擊試驗箱完成（chéng）試驗。從（cóng）常溫開始，將非工作狀態（tài）的器件放入低溫箱，使其達到（dào）存儲/工作Tmin±3℃，保持30min,取出被試件在常溫下放置2-3min，再放入溫度已達存儲/工（gōng）作（zuò）Tmax±3℃的高溫箱，保（bǎo）持30min。取出被試件在常溫下放置2-3min，再放入溫度已（yǐ）達存儲/工（gōng）作Tmin±3℃的，低溫箱，保持30min
...，如此循環重複（fù）5次。剔除外觀受損部分。一般，這（zhè）些試驗設備也需要經過認可/計量確認。
2.4.2.2一箱（xiāng）法
在三箱式（換氣式）冷熱衝擊試驗箱上（shàng）完成，將試驗箱的二個試區溫度分別置為（wéi）：存儲/工作Tmin±3℃和存儲（chǔ）/工作Tmax±℃，並設置它相關的試驗參數和上作參數。將（jiāng）受試作放入低溫區開（kāi）始試驗。應（yīng）確保試驗從低溫開始並能白動切換5個循（xún）環（huán）。一般，這些（xiē）試驗設（shè）備也需要經過認可/計量（liàng）確認（rèn）。
2.5動態（tài）老化3.5.1條件
老化的環境溫度：工作Tmax±3℃
老化時間：48h/96h。
2.5.2方法
在步入式高溫老化房上完成，按器（qì）件數據手冊規定的技術要求設定老化電源、電流、電壓等具體的老化條件。確保每個被試器件已安全地固定在相應老化板的老化夾具上，並確保老化器件的每（měi）個輸入管腿都有圖形脈衝（chōng）進入。一（yī）般，這（zhè）樣（yàng）的老化係統也需要經過認可/計量確認。48h/96h應由客戶或程（chéng）序文件確定。
2.6高溫存儲3.6.1條件
高溫存貯溫（wēn）度：存貯/工作Tmax±3℃
高溫存貯時間（jiān）：48h/96h
2.6.2方法
將元器（qì）件放在滿足試驗能力要求的高低溫（wēn）試驗箱中，設（shè）置高溫存貯溫度和保持時間，啟動試驗，當溫度（dù）到達Tmax後確保保持96h，取出自然降（jiàng）溫。一般，這樣的設備也需要經過認可/計崇（chóng）確認。48h/96h
應由客戶或程序文件確定。
2.7粗檢（jiǎn）漏
2.7.1條件
檢漏液沸點溫度：120℃±5℃
確保被檢器件能承受該溫度，否則（zé）不進行粗檢（jiǎn）漏。如：民（mín）品器件。
確保檢漏液無（wú）大於1um粒子，否則過（guò）濾後再使用。
2.7.2方法
將被檢器件放入加壓容（róng）器，充氮氣達411Kpa保持（chí）2h。然後,將恢複常壓的被檢件逐個放入120℃±5℃的檢漏液中，確保被檢件淹沒深度超過5cm.借助放大鏡觀察30s 以上，剔除連續旨泡者。一般，這樣的壓力容器和（hé）壓力表也需要經（jīng）過認可/計量（liàng）確認。
3、試檢判別依據（jù）
3.1測試判別（bié）依（yī）據
常溫初/終測、高、低溫測試的判別依據是由各微（wēi）電子器件生產廠商發布的（de）柑應器件（jiàn）於冊所規（guī）定的（de）技術指標。在無本手冊（cè）的前提下，不同商規定的技術指標可參照（zhào）執行。測試時，隻要（yào）存（cún）在（zài）一項指標不合格，該器（qì）件應視為不合格品處置。在這樣的情（qíng）況下，後序的篩選（xuǎn）過程（chéng）不再執行。除非該器件的不合格程度並不嚴重，同（tóng）時已通知並經用戶（hù）認可，方能繼續進行。
3.2試驗判別依據
3.2.1高溫存（cún）儲/高（gāo）低（dī）溫（wēn）衝擊/動（dòng）態老（lǎo）化判別依據
這兩項試驗的目的是加速/誘發微（wēi）電子器件（jiàn）的早期失效。一般存在缺陷的器件在早期失效後不能恢複，由於高低溫衝擊/動態老化設備，無能力對其電氣特性是否發生了變（biàn）化進行判別，所以對高低溫衝擊/動態老化後的器件的（de）性能判別將在終測時（shí）進行。此時隻需（xū）要對高（gāo）低溫衝擊/動態老化後的器件進（jìn）作肉眼觀察（chá），看（kàn）其外觀物理狀態是（shì）否發生了明顯（xiǎn）的變化，例如：龜裂、爆炸等等，如果有這類情況，器（qì）件應立（lì）即剔除，不再參加以後的篩選試驗。
3.2.2粗檢漏判別依據
根據粗（cū）檢漏的技術條件和要求，用放大（dà）鏡觀察浸入高溫檢漏液的器件，剔（tī）除連續詈泡者。
4、記錄和報告
在（zài）微電子器（qì）件的老化篩選過程中，對本文推薦流程（chéng）的（de）每個階（jiē）段都應形成記錄，並出具一個初測報告、低溫測試報告、高溫測試報告、一個（gè）完整（包括高低溫衝擊和動態（tài）老化和粗（cū）檢漏）的試駿報告（gào）和一個終測報告。完整的試驗報告也應將所作的全部試驗條件和結果描述消楚。
