閃存（Flash Memory）是一種長壽（shòu）命的非易失性（在斷電（diàn）情況下仍能保持所存儲的數據信息）的存儲器，並且是非揮發性內存的一種，不需（xū）電力來維持數據的儲存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用於儲存程序代碼，後者用於儲存數據。閃存應用範圍涵蓋汽車（chē）電子、因特網、存儲器、DSL 電纜調製（zhì）解（jiě）調器、數字電（diàn）視（shì）、照相手機（jī）、藍芽、 GPS、工業電子…等等。

    閃存溫度測試原因

     為（wéi）確保閃存（cún）可在極端溫度環境（例如（rú）: 油（yóu）氣探勘、重工業以及航空領域）可正常實現穩健的閃存（cún）讀/寫操作功能，因此（cǐ）在出廠前需要（yào）進行溫度測試（shì），RIUKAI超高速高低溫（wēn）交變（biàn）濕熱試驗箱憑（píng）借可測試溫度 -70℃至+150℃，每秒可快速升溫或降溫30℃，溫（wēn）度精度±0.1℃等優勢廣泛應用（yòng）於閃（shǎn）存製造行業。草莓视频网站儀器作為中國（guó）自主品牌環境溫濕（shī）度試驗設備製造商，從高低溫交變濕（shī）熱（rè）試驗箱的研發、生產、銷售及（jí）售後等一係列（liè）服務，為用戶提供更便捷、可（kě）靠的技術產品（pǐn）。

    閃（shǎn）存溫度測試方法

    通過（guò）與 內存 IC 測試係統搭配之下，客戶可直（zhí）接在極端溫度下測試閃存的運作特性（xìng）。根據客戶實際要求（qiú），小（xiǎo）編推薦（jiàn）選用RK-TH-408高低（dī）溫交變濕熱試驗箱，並提供兩種溫度操作模式：高（gāo）低溫及恒定（dìng）溫濕度測試。
    閃存多采用恒定溫濕度測試模式來進（jìn）行交變（biàn）濕熱測式，將閃存與RK-TH-408使用t型熱電偶（ǒu）相互連接，如此即可（kě）掌控受測物達到（dào）機台所設定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內嵌式記憶體eMMC 溫度測試。RK-TH-408高（gāo）低溫交變濕熱試驗箱可與多種類型（xíng）工程機聯（lián）用，進行芯片高低溫測試。