閃（shǎn）存（Flash Memory）是一種長壽命的非易失性（在斷電（diàn）情況下仍能（néng）保持所存儲的數據信息）的存儲器，並且是非揮發性內存的一（yī）種，不需電力來維持數據的儲（chǔ）存，可分（fèn）為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用於儲存程序代碼，後者用於儲存數據。閃存應用範圍涵蓋汽車電子、因特網、存儲器、DSL 電纜調製（zhì）解調器、數字電視、照相手機、藍（lán）芽、 GPS、工業電子…等等。

    閃（shǎn）存溫度（dù）測試（shì）原因

     為確保閃存可在極端溫度環境（jìng）（例如: 油氣探勘、重工業以及航空領域）可正常實現穩健（jiàn）的（de）閃存讀/寫操作功能，因此在出廠（chǎng）前需要（yào）進行（háng）溫度測試，RIUKAI超高速（sù）高低（dī）溫交變（biàn）濕熱試驗箱憑借可測試溫度 -70℃至+150℃，每秒可快速升溫或降溫30℃，溫度（dù）精度±0.1℃等優勢廣泛應用於閃存製造行業。草莓视频网站儀器作為中國自主品牌（pái）環境溫濕度試驗設（shè）備製造商，從高低溫交變濕熱試驗箱的研發（fā）、生產、銷（xiāo）售及（jí）售後（hòu）等一係列服務，為用戶提供更（gèng）便捷、可靠的（de）技術產品。

    閃存溫度測（cè）試方法

    通過與 內存 IC 測試係統搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作（zuò）特（tè）性。根據客戶實際要求，小編（biān）推薦選用RK-TH-408高低（dī）溫交變濕熱試驗箱，並提供兩種溫度（dù）操作模式：高低溫及恒定（dìng）溫濕度測試。
    閃存多采用恒定溫濕度測試模式來（lái）進行交變（biàn）濕熱測式，將（jiāng）閃存與RK-TH-408使用t型熱電偶（ǒu）相互連（lián）接，如此即可（kě）掌控受測物達到機台（tái）所設定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內嵌式記憶體（tǐ）eMMC 溫度測試。RK-TH-408高低溫交變濕熱試驗（yàn）箱可與多種類型工程機聯用，進行芯片高低溫測試。