溫（wēn）度範圍（wéi）:105°C~155°C
控製精度:±0.5°C
濕度範圍:65%RH~100%RH
壓力範圍:+0.2~3.5kg
使用時間:可持（chí）續使用500小時+
升溫時（shí）間:約70分鍾（zhōng）(從室溫到120°C、85%RH到達時間)
試驗（yàn）數據可以導出為（wéi）Excel格式並通過USB接（jiē）口（kǒu）進行傳輸
HAST試驗箱是利用高（gāo）溫(通常（cháng）為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件（達3 atm）來加速潮氣通（tōng）過外部（bù）保護材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗（yàn）設備（bèi），用於評估（gū）產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速（sù）其失效過程（chéng）。
該試驗檢（jiǎn）查芯片及其他材料長期貯存條件下，高溫和（hé）時間對器件的影響。本規範適用於量產芯片驗證測試階段的HAST測試（shì）需求，僅針對非密封封裝（zhuāng）（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試（shì）。
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標準設（shè）計更安全
內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全（quán）容（róng）器規範；
多重保（bǎo）護功能
三道高溫保護裝（zhuāng）置、濕度（dù）用水斷水保護與電熱斷水（shuǐ）空焚保（bǎo）護、機台停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護（hù）等
穩定性更高
壓力值采實際（jì）感應偵測，確（què）保溫度、濕度及壓力值準確度；
濕度自由選擇
濕度自由選擇飽和（hé）（100%R.H濕（shī）度）與非飽和（75%R.H濕度）自由設定；
智能化高
支持電（diàn）腦連接，
利（lì）用USB數據、
曲線導出保存
GB-T 2423.40-1997 電（diàn）工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和（hé）高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水（shuǐ）汽抵抗性（xìng）-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）
JESD22-A110 高（gāo）加速溫濕度應力試驗（HAST）
JESD22-A118 加速（sù）水（shuǐ）汽抵抗性--無偏壓HAST(無（wú）偏置電（diàn）壓未飽和高壓蒸汽)
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