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HAST老化試驗箱非標定製

HAST老化（huà）試驗箱非標（biāo）定製

產品特點：

可定製BIAS偏壓端子組數，提供（gòng）產品（pǐn）通電測試

通過電腦安全便（biàn）捷的遠程訪問（wèn）

多層級的（de）敏感數據保護

便捷的程序入口、試驗設置和產品監控

試驗數據可（kě）以導出（chū）為Excel格式並通過USB接口進行傳（chuán）輸（shū）

型號：HAST係（xì）列（liè）                生產方式： 非標定製

品牌： RIUKAI                      產地： 廣東·東莞（wǎn）

非標定製產（chǎn）品詳情請谘詢客服

服務熱線： 400-088-3892
產品簡介 / Introduction

產品 · 詳情product details

HAST

設備用途Equipment use

HAST設備（bèi）用於評估非氣密性封裝IC器件（jiàn）、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。通（tōng）過溫度、濕度、大氣壓力條件下應用於加速濕氣的滲透，可通過外部保護材料（塑封料（liào）或封口），或在外部保護（hù）材料與金屬傳導材料之間界麵。它采用了嚴格的溫（wēn）度，濕度，大氣壓、電壓條件，該條件（jiàn）會加速水分滲透到（dào）材料內部與金屬導體之間的電化學反應。失（shī）效機製：電離腐蝕，封裝密封（fēng）性。


準時交貨（huò）準（zhǔn）時交貨率高達99% 立即谘詢

產品 · 特點Product features

  • 設計三種控製模（mó）式（shì）

    不飽和（hé）控製(幹濕球溫（wēn）度控製（zhì）)、不飽和控製(升溫溫度控製)、濕潤飽和控製。

  • 安全多重保護功能

    各種超壓超溫、幹燒漏電及誤操作等多重人機保護；

  • 穩定可帶電測試

    可定製BIAS偏壓（yā）端子組數，提供（gòng）產品通電測試；

  • 選擇濕度自由選擇

    飽和（100%R.H濕度）與（yǔ）非飽和（hé）（75%R.H濕（shī）度）自由設（shè）定；

  • 智能智能化高

    支持（chí）電（diàn）腦連接，
    利（lì）用USB數（shù）據、
    曲線導出保存（cún）

HAST-900L高（gāo）壓加速老化試驗（yàn）箱

HAST試驗箱（xiāng）規格（gé）參數


    滿足測試標準

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試（shì）驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定（dìng）濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽（qì）)
    JESD22-A100 循環溫濕度偏（piān）置壽命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及（jí）偏壓測試
    JESD22-A102 加速水（shuǐ）汽抵抗性-無偏置高（gāo）壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度，偏置電（diàn）壓，以及（jí）工作壽命（IC壽命試驗）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（yàn）（HAST）
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未（wèi）飽和高壓蒸汽)等

    舉例：

    適用範圍:  該試驗檢查芯片及其他產品材料（liào）長期貯存條件（jiàn）下（xià），高（gāo）溫和時間對器件（jiàn）的影響。本規範適用於量產芯片驗（yàn）證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封（fēng）封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
    溫度、濕度、氣壓、測（cè）試時間
    ➢ 通常選擇（zé）HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。 
    ➢ 測試過（guò）程中，建議調試階段監控芯片殼溫、功耗數據推算芯片結溫（wēn），要保證結溫（wēn）不（bú）能過 高，並在測試過程中定期記錄。結溫推算方法參考《HTOL測試技術規範》。
    ➢ 如果殼溫與環溫差值或者功耗滿足下表三種關係時，特別是當殼溫與環溫差值超過 10℃時，需考慮周期（qī）性的電壓拉偏策略（luè）。
    ➢ 注意測試起（qǐ）始時間是（shì）從環境（jìng）條（tiáo）件達到規（guī）定條件（jiàn）後開始計算；結束（shù）時間為開始降溫降（jiàng）壓操（cāo） 作的時間點。

    電壓拉偏

    uHAST測試不帶（dài）電壓拉偏， 不需要關注該（gāi）節；
    bHAST需要帶電壓拉（lā）偏 ，遵循以下原則（zé）：
    （1） 所有電源上電，電壓：推薦操作範圍電壓（yā）（Maximum Recommended Operating Conditions）
    （2） 芯片、材料功耗小（數字部分不翻轉、輸入晶振短（duǎn）接、其他降功耗方法）；
    （3） 輸入（rù）管腳在輸入電壓允許範圍內拉高。
    （4） 其（qí）他管腳，如時鍾端、複位端、輸（shū）出管腳在輸出範圍內隨機拉高或者拉低；

HAST設備（bèi）

HAST設備生（shēng）產廠家

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生產 · 實力Productive strength

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HAST試（shì）驗箱（xiāng）

HAST試驗箱

產品特點：用戶可以查看他們希望（wàng）查看任何數據通過電腦安全便（biàn）捷（jié）的遠程訪問多層級的敏感數（shù）據保（bǎo）護便捷的程序（xù）入（rù）口、試驗設（shè）置和產品監控試驗數據可以導出（chū）為Excel格式並通過USB接口進（jìn）行傳輸HAST測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。
快（kuài）速溫度變化（huà）試（shì）驗箱

快速溫（wēn）度變化試（shì）驗箱

產品特點：·多層級密碼安全保護係統來（lái）保護用（yòng）戶的寶貴數據·可以使用電子表格格式下載試驗數（shù）據·產品溫度控製：通過提高環境（jìng）空氣目標溫度來控製產品溫度，進而提高（gāo）產（chǎn）品溫度變化率·係統監控：檢測製冷係統的（de）壓力和溫度是否過高，並在故障出現時提醒用戶（hù）控製器程序編輯·在單（dān）一界（jiè）麵完成程序的所有編輯和查看在單一界麵完成程序（xù）的所有編輯和查看工作·支持線性溫（wēn）度控製
步（bù）入式高低（dī）溫濕熱試驗箱

步入式（shì）高低溫（wēn）濕（shī）熱試驗箱（xiāng）

品牌（pái）：RIUKAI產地：廣（guǎng）東·東莞內箱容積：17000L（可定製）溫（wēn）度範圍：-40℃～+150℃（可定製（zhì）低溫-70℃、-60℃、-20℃等）濕（shī）度範圍：20%～98%RH（可定製5%~98%RH、10%~98%RH）步入（rù）式高低溫濕熱試（shì）驗箱是用於（yú）對產品按照國家標準要求或用（yòng）戶自定要求，在低溫、高溫、條（tiáo）件（jiàn）下，對產品的物理以及其他相關特性進行環境模擬測試的儀器。
冷熱（rè）衝擊試驗箱

冷熱衝擊試驗箱

高溫槽溫度範圍：+60℃～+200℃（非標可定製180℃、200℃）低溫槽溫度範圍：A(-55℃～-10℃);B(-65℃～-10℃);C(-80℃～-10℃)升溫時間：+60℃～+200℃≤35min降溫（wēn）時間：A(+20℃～-55℃)≤70min;B(+20℃～-65℃)≤80min;C(+20℃～-80℃)≤90min試（shì）驗方式：氣（qì）動切換，吊籃移動（dòng）式衝擊（jī）恢複時間：≤5min吊籃移動時（shí）間：10S以（yǐ）內

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