熱門關（guān）鍵詞： 高低溫試驗箱（xiāng） 可程式恒溫恒濕試驗箱 PCT高壓加速老化試驗機 無風烤箱 鹽霧試驗箱
產（chǎn）品特點：
用（yòng）戶可（kě）以查（chá）看他們希望（wàng）查看任何數據
通過電腦安全便捷的遠程訪問
多層級的敏感數據保護
便捷的程序入（rù）口、試驗設置和產品監控
試驗數據可以（yǐ）導出為（wéi）Excel格式並通（tōng）過USB接口進行傳輸
HAST測試（shì）條件有130℃、85%RH、230KPa大氣（qì）壓，96hour測試時間。
HAST試驗箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓（yā）力的條件（jiàn）（達3 atm）來加速潮氣通過外部（bù）保護材料或芯片引線周圍（wéi）的密封封裝的試驗設備，用於評估產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失（shī）效過程。
該試驗檢查芯片及其他材料長期貯存條件下，高（gāo）溫和時間對器件的影響。本規範適用於量產芯片驗證測試階段（duàn）的HAST測試需求，僅針對非密封封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
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標準設計更安全
內膽采（cǎi）用圓弧設計防止結露滴水，符合國家（jiā）安全容器規範；
多重保護功能（néng）
三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水（shuǐ）空焚保（bǎo）護、機台停機時自動排除飽和蒸（zhēng）氣壓力、氣動機構壓力保護等
穩定性（xìng）更高
壓力（lì）值采實際感應偵測（cè），確（què）保溫度、濕度及壓力值準確度；
濕度自由選擇
濕（shī）度自由選擇飽和（100%R.H濕度）與非飽（bǎo）和（75%R.H濕度）自由設定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數據、
曲線導出保存
GB-T 2423.40-1997 電（diàn）工電子（zǐ）產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽（bǎo）和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法（fǎ） 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式（shì）溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加（jiā）速（sù）水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫（wēn）度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽（shòu）命試驗）
JESD22-A110 高加速溫濕度（dù）應力試驗（HAST）
JESD22-A118 加速（sù）水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏（piān）置電壓未飽和高（gāo）壓蒸汽)
400電（diàn）話
