1、導（dǎo）言
    1.1 範圍
    本（běn）部（bù）分適用於室溫條件下的低氣壓試驗。
    本試驗的目的是用於確定元件（jiàn）、設備或其他產品在低氣（qì）壓條（tiáo）件下（xià）貯存、運（yùn）輸或（huò）使用的適應性。
    注:在（zài）高溫和（hé）低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜（zōng）合（hé）環境下貯存（cún）、運輸或使（shǐ）用的產品，這種綜合環境對於施加於產品上的應力或失效機理的影響是（shì）十分重要的，應按下列標準進行試驗:
    ——GB/T 2423.25 電工電子產品環（huán）境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試（shì）驗
    ——GB/T 2423. 26電工電子產 品環境試驗第（dì） 2部（bù）分:試驗方法試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
    1.2 規範性引用文件
    下列文件中的條款通（tōng）過GB/T2423標準的本部分的引用而成為本部分（fèn）的條款。凡是注日期（qī）的引用文件，其隨後所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修（xiū）訂版均不適用於本部分，然（rán）而，鼓勵根據本（běn）部分達成（chéng）協議的各方（fāng）研究是否可使（shǐ）用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用（yòng）文件，其新版本適用（yòng）於本部分。
    GB/T 2421電工電（diàn） 子產品環（huán）境試驗第 1部分:總則（GB/T 2421- 1999， IEC 60068-1: 1988，IDT）
    GB/T 2423. 25電工電子產 品環（huán）境試驗第 2部（bù）分:試驗方法試驗 Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423. 25一2008 ，1EC 60068-2-40 :1983 ，IDT）
    GB/T 2423. 26電工電子產 品環境試驗（yàn）第 2部分（fèn）:試驗方法試（shì）驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423. 26一2008 ，1EC 60068-2-41 : 1983，IDT）
    ISO 2533標準大氣
    2、一般說明
    將試驗樣品放入高（gāo）低溫低氣壓試驗箱（室），然後將試驗箱（室）內氣壓降低到相關規範規定的值，並保持規定持續時間的試驗。
    3、試驗設備
    高低溫低氣壓試驗箱（室）應具有能保持本（běn）部（bù）分（fèn）第4章所規定的低氣（qì）壓（yā）條件的能力。
    在（zài）恢複氣壓（yā）至正（zhèng）常時，應注（zhù）意避免發生由於輔助設備、裝置及導人（rén）不清潔的空氣而使箱內空氣發生汙染的情（qíng）況。
    當對散熱試驗（yàn）樣品進行（háng）試驗時，相關規範可根（gēn）據GB/T2423.26的要求對試驗箱（xiāng）（室）進行適當的規定（dìng）。
    4、嚴酷等級
    相（xiàng）關（guān）規範應當規定氣壓和試驗持續時間的嚴酷等級，其值（zhí）應從4.1和4.2的規定中優先選擇。

    4.1 氣壓
    在高低溫低氣壓試驗箱（室）中應能（néng）保持表（biǎo）1中的氣壓，其容差為±5%或±0.1 kPa（取較大值），在嚴酷等級為84 kPa時的容差為±2 kPa。
    4.2試（shì）驗持續時間
    相關規範應優先選用下列試驗持續時間（jiān）之一:
    ——5 min；
    ——30 min；
    ——2 h；
    ——4 h；
    ——16 h。
    5、預處（chù）理
    可根據相關規（guī）範的要求進行預處理。
    6、初始檢測
    應按相（xiàng）關規範（fàn）要（yào）求對樣品進行視檢及電氣與機械性能檢測。
    7、條件試驗
    7.1高低（dī）溫（wēn）低（dī）氣壓試驗箱（室）內的溫度應在規定的試驗標準大氣條件溫（wēn）度範圍內。
    當不要求樣品在運行狀態（tài）下進行試驗時，樣品應在（zài）不包裝、不通電、“準備使用”狀態，按其正常（cháng）位置（除非（fēi）另有規（guī）定（dìng））放（fàng）人高低溫低氣（qì）壓（yā）試驗箱（室）內。
    7.2 將高低溫低氣壓試（shì）驗箱（xiāng）（室（shì））內的氣壓降低（dī）到符合規定嚴酷等級的值，如有需要，相關（guān）規範（fàn）可規定氣壓變化速度不（bú）大於10 kPa/ min。
    7.3當要求樣品在運行狀態（tài）下進行試驗時，樣（yàng）品應通電或加電氣負載，應檢查確定試驗樣品是否能滿足相關規範規定的功能。試驗樣品可按規定的持續時間保持在運（yùn）行狀態，或是按相關規範（fàn）的要（yào）求斷開電源。
    若相關規範要求中間檢測時，則應進行中間檢（jiǎn）測。
    對散（sàn）熱試驗樣品（pǐn），相關規範可要（yào）求在降低氣壓以前或以後對（duì）試驗（yàn）樣品通（tōng）電足夠長的時間，使其達到熱穩定，並進行功能試驗和（或）檢測。
    7.4氣壓應保持規定的（de）持續時間。
    7.5 使氣壓恢複到常壓，若相關規範有要求時，氣壓變化的（de）速度應不超過10 kPa/ min。
    8、恢複
    若相關規範無其他規定，試驗樣品應保持在標準（zhǔn）大氣條件（jiàn）下進行恢複（fù），時間不少（shǎo）於（yú）1 h，但也不超過2 h。
    9、後檢（jiǎn）測
    應按相關規範的要求，對試驗樣品進行視檢及電氣與機械性能（néng）檢測。
    10、相（xiàng）關規（guī）範應給的資料
    相關規範應用本試驗方法時，應盡量給出下（xià）列適用的細節（jiē）:
    a）預處理（見第5章）；
    b）初始檢測（見第6章）；
    c）條件試驗時試驗樣品狀（zhuàng）態（見7.3）；
    d）嚴酷等級:試驗氣壓和持續時間（jiān）（見第4章）；
    e）對采用壓 力變化速度的限（xiàn）製（zhì）（見7.2和（hé）/或7.5）；
    f）條件試驗（yàn）期（qī）間熱（rè）穩定、檢測和（或）負載檢查（見7.1或7.3）；
    g）恢複（見第 8章）；
    h）後檢（jiǎn）測（見第 9章）。