本規範規定了電容式觸摸屏單體環境適應可靠性（xìng）測試，明確了（le）各個測試項的測試目的具體方法（fǎ）、判斷標準等
1、低溫測試
1.1測（cè）試目的：模擬（nǐ）低端條件下的儲存與使用，確定產品（pǐn）在低溫狀態（tài）下的適用性，不會在極端低溫條件下產品永久性損壞。1.2測試條件
1）在-30℃環境工作240小時（shí）；
2）測試樣品數量：10pcs(通（tōng）電）+10pcs(不通電）
1.3測試程序
1）測試前對樣品電性能和主要指標以及外觀進行檢測，確保產品測試前OK
2）將20pcs樣品放置在高低溫試驗箱中，控製試（shì）驗（yàn）箱（xiāng）溫度按照穩定溫（wēn）變率降（jiàng）低，直（zhí）至試驗箱溫度（dù）為-30℃，持續240小時進行測試，恢複常（cháng）溫2h 後在再次檢查外觀、機械及（jí）各項（xiàng）性能指標
1.產品取出高低溫試驗箱後立即對外觀（guān）進（jìn）行全檢，外觀不能出現氣泡（pào），黃變，AF膜（mó）層脫落等（děng）失效現象（xiàng）
2.常（cháng）溫狀態下恢複2小後其外觀、機械功能和電氣功能（néng）正常；TP主要性能指標（電容值、線性度、靈敏度、準確度）達到要求（qiú）；測試結果（guǒ）必須滿足全部（bù）OK，否則判定（dìng）為測試NG
2、溫度衝擊測試
2.1測試目的驗證觸摸屏（píng）樣品經受（shòu）急劇溫度變化的能力，驗（yàn）證整（zhěng）機在快速溫變化時，是否可以正常工作。
2.2測試條件
溫度衝擊試驗箱設定：低溫-40℃，高溫85℃，高低溫各停留0.5小時，高低（dī）溫切（qiē）換時間小於5分鍾，共100個循環，每個循環（huán）包括低溫（wēn）和高溫各1次停留；
測試樣品數量：
a）樣品階段（V3IV4、VN1VN2）：32pcs/次，V3V4一次，VN1IVN2一次爬（pá）坡階段(產量≥3K）：≥64pcs
c）量產階段（duàn）：供應商1pcs/班/生產線3.2.3測試程序（xù）
1）測試前（qián）對樣品電性能和（hé）主要指標以及（jí）外觀進行檢測（cè）；
2）樣品不通電（diàn），調節設定溫度衝擊試驗箱（xiāng）低溫溫度（dù）為-40℃，溫（wēn）度衝（chōng）擊試驗（yàn）箱高溫溫度為85℃，(模式切換時間（jiān）小於（yú）5mins），1循環包括高溫30分鍾，低溫30分鍾，共進行100個循環。
2.4合格判據
l）測試完（wán）成（chéng）後，測試樣品外（wài）觀、機械功能和電（diàn）氣功能正常；TP主要性能指標（電容值、
線性度、靈敏度、準確度）達到（dào）要求
3、高溫高（gāo）濕測試
3.1測試目的確定觸摸屏樣品在高溫濕熱條件下的（de）使用、存儲的（de）適應性。
3.2測試條件
1）85℃，相對濕度85%，240小時，測試樣品全部通電（diàn）
2）測試樣品數量（liàng）：
a）樣品階段（V3V4、VN1VN2）：32pcs/次，V3V4一次，VN11VN2一次
b）爬坡階段(產量≥3K）：通用模組為64pcs；高風險模組（zǔ）≥96pcs
c）量產階段：供應商1pcs/班/生產線
*注：對於前期評（píng）估出的部分技術風險較高的項目，在（zài）規格書中標明，將抽測試（shì）的樣本數（shù）量加大；風險較高的（de）項目包含使用到新技術、新（xīn）工藝、新材（cái）料、新供應商、新廠房（fáng）等的項目，以（yǐ）及預（yù）估海量發貨的（de）項（xiàng）目。
3.3測試程（chéng）序
1）測試前對樣品電（diàn）性能和主（zhǔ）要指標以及外觀進（jìn）行（háng）檢測；並且對（duì）TP 的 TX、RX通道的電壓信號用（yòng）示波器或萬用表進行測量，測量TX/RX與GND之間（jiān）電壓（yā），確保（bǎo）通道有電壓信號。
2）對樣品供電保證其正常工作（zuò），並放置在溫濕（shī）度試驗箱中（zhōng），對試驗箱內（nèi）濕度進行控（kòng）製並（bìng）在2小時內升到85%RH，溫度升到85℃(參考以下測（cè）試曲線），，後保持溫濕進行（háng）測試
3）測試完成後，拿出（chū）產（chǎn）品放置於大氣環境恢複2小時，對樣品進行外觀、機械及（jí）各（gè）項性能檢查（chá）。
3.4合格判據
1）240H測試完成後，在（zài）室溫放置2小（xiǎo）時後，判定測試樣（yàng）品（pǐn）外觀、機械功能和電氣功（gōng）能正常（cháng）；
TP主要性能指標（電容值、線性度、靈敏度、準確度）達到要求（qiú）
4、組合應力測試
4.1測試目的針（zhēn）對新材料、新工藝、新技術應用等（děng），在研發階段發現其失效模式和缺陷（xiàn），為分析改進提供可靠性試驗數據。
3.4.2測試條件
樣品不通（tōng）電，設定溫度衝擊試驗箱（xiāng）低（dī）溫溫度為-40℃，溫度衝擊試（shì）驗箱高溫溫度為85℃，(模式切換時間小於5mins） ，1個循環包括高溫30 分鍾，低溫30 分（fèn）鍾，共進行（háng）100個循環。溫度衝擊試驗檢查合格後的樣品，進行通（tōng）電溫濕度試驗，90%RH，溫度升到（dào）70℃，濕（shī）度90%RH，試驗持續時間240小時，分別在120小時，240小時進行功能和電性能測試。
4.3測試程序
1）樣品不通電，設定冷箱溫度為-40℃，熱箱溫度為 85℃，（模式切換時（shí）間小於5mins），1個（gè）循環包括高（gāo）溫30分鍾，低溫30分鍾，共進行100個循環（huán）。試驗結束後檢查樣品外觀、機械功能和電氣功能（néng）正常；記（jì）錄TP主要性能指標（電容值、線（xiàn）性度、靈敏度、準確度（dù））測試數據。
2）溫度衝（chōng）擊試驗檢查合格後的樣品，進行通電溫濕度試（shì）驗，並且在通電溫濕度試驗前對TP 的 TX、RX通道的電壓信號用示波器或萬用（yòng）表進行測量，測量TX/RX與（yǔ）GND之間電壓，確保通道有電壓信號。對試驗箱內濕度進行控製並在2小時內升到90%RH，溫度升到70℃ ，溫濕度試驗持續時間240小時，分別在120小時，240 小時（shí）進行恢複後的功（gōng）能和電性（xìng）能測試，記錄TP主（zhǔ）要（yào）性能指標（電容值、線性度、靈敏（mǐn）度、準確度）測試數據。
4.4測試結果分析
測試完成後，應給出（chū）測試樣品外觀、機械功能和電氣功能檢查測試數據報告，給出（chū）樣品失效分（fèn）析報告。
5、鹽霧測試
5.1測試目的主要判定（dìng）TP部件（jiàn）耐腐（fǔ）蝕能力，以及在輕度腐蝕環（huán）境下的適應性3.5.2測試條件鹽霧濃度為5%的 NaCI溶液，在35℃條件下連續（xù）噴24小（xiǎo）時，然後（hòu）移（yí）出進行（háng）16小時晾幹樣品數量： 10pcs
5.3測試程序
1）被測（cè）樣品的要求，將Sensor麵暴露在外，FPC用無影膠帶密封包住（zhù），防（fáng）止與鹽霧接觸
2）樣品在鹽霧測試（shì）前（qián）35℃條件（jiàn）下進行2小時的預處（chù）理3）測試時樣品不上電，樣品（pǐn）之間相互保持獨立
4）樣品暴露在（zài）鹽霧環境中，持續進行24小時。
5）測試結束後，將樣（yàng）品從鹽霧試驗箱（xiāng）移除，並在室溫環境下晾（liàng）幹16小時
5.4合格判據
測試完成後，測試樣品外（wài）觀、機械功能和電氣功能正常。
