1、引言
    1.1目的
    用以確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿的（de）能力；確定密封元件耐（nài）受壓力差不破壞的能力（lì）；檢驗元件工作特性在低氣壓下受到的影響及低氣壓下的其它效應；有時候可（kě）用於確定（dìng）機電元件的耐久性。
    1.2應用
    本標（biāo）準是常溫條件下的低（dī）氣壓試驗。若（ruò）裝置元件的設備將在低（dī）溫低氣壓及高溫低氣（qì）壓（yā）的（de）綜合條件下貯存和使（shǐ）用，而且能（néng）夠斷定（dìng）高低溫（wēn）和壓力（lì）的綜合作用是造成其失效的（de）主要原因，常溫低氣壓（yā）試（shì）驗不能使用時，則應進行溫（wēn）度一壓力（lì）綜合環境（jìng）試驗。
    2、試驗條件
    2.1試驗壓力
    有關標準應從下表中選取（qǔ）試（shì）驗（yàn）壓力等級。

    

    2.2壓力容差
    按GJB360.1-87《電子及電氣元件（jiàn）試驗（yàn）方（fāng）法總則》中（zhōng） 4.4條C的規定。
    2.3試驗時間
    若無其它規定，試驗樣品在低氣壓條件下的試（shì）驗時間，可從下列數（shù）值中（zhōng）選取:
    3、對試驗設備的要求
    3.1高低溫（wēn）低（dī）氣壓試驗箱應滿足第2章規定的試驗條件。
    3.2高低溫低氣壓試（shì）驗箱應有觀察（chá）窗和接線（xiàn）柱，以便觀察和測量（liàng）電性能。
    3.3高低溫（wēn）低氣壓試驗箱應有壓力指示器，以（yǐ）便測量箱內壓力。
    3.4 應注意避免試驗箱的輔助裝置，如泵的工作液蒸（zhēng）氣及試驗箱附件（閥、絕緣物）釋放的蒸（zhēng）氣（qì）產（chǎn）生汙染。壓力（lì）恢複（fù）正常時（shí），應注（zhù）意避免空（kōng）氣帶入灰塵或水氣汙染試驗樣品。
    4、試驗程序
    4.1 預（yù）處理
    試驗樣品應在試驗（yàn）的標準大氣條件（jiàn）下至少保（bǎo）持20min或按（àn）有關標準的規定。
    4.2初始檢測
    按有關標準規定，對試驗樣品進行外觀檢查、電性能和機械性能檢（jiǎn）測。
    4.3試驗（yàn）
    4.3.1對試（shì）驗期間不要求檢測（cè）性能的試驗樣品，應在不包裝、不通電和“準備使用”狀（zhuàng）態按其正常工作位置（zhì）放入具有試驗（yàn）的標準大氣條件的高（gāo）低溫低氣壓試驗箱內；對於試驗期（qī）間要求（qiú）檢測性能的試驗樣品，應接好電負載（zǎi）及其它測試（shì）儀表。並（bìng）且進行檢（jiǎn）查，以（yǐ）確定試驗樣品是（shì）否具有有關標準規定的性能。然後，按有關標準規（guī）定的時間接通或（huò）關閉電源。
    4.3.2若無（wú）其它規定，以不大於10kPa/min的降壓速率將試驗箱內壓力降到有關標準規定的值。
    4.3.3在此壓力下保持有關（guān）標準（zhǔn）規定的時間。
    4.3.4若需（xū）要，按有關標準的規定（dìng）進行中間（jiān）檢測。
    4.3.5若無其它規（guī）定，以不大於10kPa/min的升壓速率使（shǐ）高低溫低氣壓試驗箱（xiāng）內壓力恢複（fù）到正常值。
    4.4 恢複
    若（ruò）無其它規定，試驗樣品（pǐn）應在試驗的（de）標準大氣條件下保持1~2h。
    4.5後檢測
    按有關標準的（de）規定，對試驗樣品進行外觀檢查（chá）、電性能和機械性能（néng）檢測。
    5、失效判據
    由有關標準規（guī）定。
    6、采（cǎi）用本標準時應規定的細則（zé）
    a.試驗（yàn）壓力等級代（dài）號（見（jiàn）2.1條）；
    b.試驗時間（見2.3條）；
    c.預處理（見4.1條）；
    d.初（chū）始檢測（見4.2條）；
    e.安裝方式和試驗樣（yàng）品狀態（見4.3. 1款）；
    f.低氣壓條（tiáo）件下進行中間檢測時所需的條件、其它（tā）參數（如（rú）試驗（yàn）電（diàn）壓、加（jiā）電壓時間）和檢測項目（見4.3. 1款）；
    g. 後檢測（cè）（見4.5條）；
    h.失效（xiào）判據（見第5章）。