為確保PCB電路板長時間使用的質量與可靠度，很多（duō）PCB電路板製造廠（chǎng）家都（dōu）進行SIR (Surface Insulation Resistance)表麵絕緣電阻的試驗，透過其試驗方（fāng）式找出PCB是否（fǒu）會發生MIG(離子遷移)與CAF(玻纖紗陽極性漏電)現象，離子遷移與是在加濕狀態下(如（rú）：85℃/85%R.H.)，施加恒定偏壓(如：50V)，離子（zǐ）化金屬向相反電極間移動(陰極向（xiàng）陽極生長)，相對電極還原成原來的金屬並析出樹（shù）枝狀金屬的現象，常造成短路，離（lí）子遷移非常（cháng）脆弱，在通電瞬間產生的電（diàn）流會使離子遷移本身溶斷消失。

    試（shì）驗設備：

    HAST高壓加速壽命試驗機

    設備特點：

    1、低噪音設計，噪音值都控製在（zài）65dB 以下；

    2、曲線和數據（jù）保存，所有的試驗數據和曲線可通過USB按日期選擇拷貝保存，可記錄保存120天數據及曲線；

    3、緩降壓處理，可選排氣排水（shuǐ）模式（shì），防止試驗結束（shù）後樣件受到急劇壓力、溫度或水分蒸（zhēng）發的環境影響（xiǎng）。

    MIG與CAF常用（yòng）的規範（fàn）：

    IPC-TM-650-2.6.14.、IPC-SF-G18、IPC-9691A、IPC-650-2.6.25、MIL-F-14256D、ISO 9455-17、JIS Z 3284、JIS Z 3197等。

    試驗時間通常（cháng）一次就是1000h、2000h，對於產（chǎn）品的周期（qī）性來說緩（huǎn）不應急，而HAST是一種試驗（yàn）手（shǒu）法也（yě）是設備名（míng）稱，HAST高壓（yā）加速壽命試驗機是提高（gāo）環境應力(溫度&濕度&壓力)，在不（bú）飽和濕度環（huán）境下(濕度：85%R.H.)加快試（shì）驗過程縮短試驗時間，用來評定PCB壓合&絕緣電阻，與相關材料的吸濕效果狀況，縮短高溫高濕的試驗時間(85℃/85％R.H./1000h→110℃/85％R.H./264h)，

    PCB的HAST試驗主要參考規範為：

    JESD22-A110-B、JPCA-ET-01、JPCA-ET-08。

    應力與老化程度及加（jiā）速時間示意圖

    HAST加速壽命模式：

    ★提高溫度(110℃、120℃、130℃)

    ★維持高濕（shī）(85%R.H.)

    ★施加壓力(110℃/85%/0.12MPa、120℃/85%/0.17MPa、130℃/85%/0.23MPa)

    ★外加偏壓(DC直流電)

    PCB的（de）HAST測試條件：

    1、JPCA-ET-08：110、120、130 ℃/85%R.H. /5～100V 

    2、高TG環氧多層（céng）板：120℃/85%R.H./100V，800小時

    3、低誘電率多層板：110℃/85% R.H./50V/300h

    4、多層PCB配線材料：120℃/85% R.H/100V/800 h

    5、低（dī）膨脹（zhàng）係數&低表麵粗糙度無（wú）鹵（lǔ）素絕緣材料：130℃/ 85 % R.H/12V/240h

    6、感旋（xuán）光性（xìng）覆蓋膜：130℃/ 85 % R.H/6V/100h
    7、COF膜用熱硬化型板：120℃/ 85 % R.H/100V/100h