元器件可靠性試驗是由（yóu）一係列通用的基本試驗單元——可靠性（xìng）基礎試（shì）驗組成，把組成各種可靠性試驗的基本的試驗叫做可靠（kào）性基礎試（shì）驗（yàn）。可靠性（xìng）基礎試驗如高（gāo）溫貯存試驗、振動試驗和鹽（yán）霧試驗（yàn）等，它們都（dōu）是獨立的試驗，不同的組合可構成不同的可靠（kào）性試驗。因此，可靠（kào）性基（jī）礎試驗的結果（guǒ）將直接（jiē）影響元器件可（kě）靠性試驗的結果。所以，這些通用的可靠性基礎試（shì）驗（yàn）是做好元器件可（kě）靠性試驗的重要保證。