針（zhēn）對鋁薄膜進行了快速（sù）冷熱循環試驗。模擬焦耳熱變化（huà）並研究影響機理。試驗結果表明。對比（bǐ）於恒溫加熱（rè）。焦耳熱循環變化會導致應（yīng）力遷移速率持續變化。對鋁薄膜表麵形成變（biàn）應力衝擊。同時加劇表麵（miàn）疲勞微裂紋的形成與（yǔ）擴展。終使表麵小丘數量和體積顯（xiǎn）著（zhe）增加。致使集（jí）成電路（lù）失效概率大幅提（tí）高。