艦船（chuán）通用微（wēi）電子器件的老（lǎo）化篩選項月，一般都與個或多個故障模代有關。所以其（qí）老化篩選的順序（xù）大（dà）有講究，本（běn）文推薦的艦船通用微電子器（qì）件老化篩選順序（xù）（流程）是：常溫初（chū）測、低溫測試、高溫測試、高低（dī）溫衝擊動態老化（huà）/高溫存儲檢漏（lòu）常溫終測這裏（lǐ）的/是條件（jiàn）或。即如果已做動態老化，高溫存儲可省：如果由於條件限製做不了動態老化，那（nà）麽可用高（gāo）溫存儲作補償性篩（shāi）選。