艦（jiàn）船通（tōng）用微電子器件的老（lǎo）化篩選項月，一（yī）般都與個或多個故障模代有關。所以其老化篩選的順序大有講究，本文推薦的艦船通用微電子器件老化篩選順序（流程）是：常溫（wēn）初測、低溫測試（shì）、高溫測試、高（gāo）低溫衝（chōng）擊動態老化/高溫存儲檢漏常溫終測這裏的/是條件或。即如果已做動態老化，高溫存儲可省：如果（guǒ）由於條件限製做不了動態老化，那麽可用高溫存儲作（zuò）補（bǔ）償（cháng）性篩選。