艦船電子設備環境試驗低溫貯（zhù）存試驗GJB4.4-1983艦船電子（zǐ）設備環境試驗低（dī）溫試（shì）驗GJB4.3-1983軍用電子測試設備通用規範GJB3947A-2009軍用計算機通用規範GJB322A-1998軍用通信設備通用規範GJB367A－2001軍用裝備實驗室環境試驗方法第（dì）4部分：低溫試驗GJB150.4A-2009

可靠性環境試驗項（xiàng）目確定後，按照什麽順序進行試驗（yàn），GJB150-1986、GJB150A-2009和GJB4-1983三項（xiàng）標（biāo）準中均有一定（dìng）的規定。

艦船裝備的環境試（shì）驗基本上是（shì）在實驗室進行，實驗室試驗具有重複性、可再現性。目前，常用（yòng）的環境試驗軍用標準有GJB150-1986《軍用設備環境試驗方法》、GJB150A-2009《軍用裝備實驗室（shì）環境試驗方法（fǎ）》和GJB4-1983《艦船電子設備環境試驗》等。

試驗樣品應處（chù）於不包裝、不通電和準備工作狀態，並按實船使用狀態將試驗（yàn）樣品放進（jìn）試驗箱(室)內，然後以（yǐ）每分鍾不超過1℃的速率將高低溫試驗箱（室）的溫度降到-40+3℃，保溫24小時。

本標準規定了艦船電子設備的高溫試驗（yàn），它是製訂艦船電子設備總技（jì）術條件或產品標準（zhǔn）等技術文件相（xiàng）應部分的基礎和選用依（yī）據。GJB4.1--83《艦船電子設備環境試驗總則》的規定適用於本標準。