艦船電子設（shè）備環境試驗低溫貯（zhù）存試驗（yàn）GJB4.4-1983艦船電子設備環境試驗低溫試驗GJB4.3-1983軍用電子測試設備通用規範GJB3947A-2009軍用計算機通用規範GJB322A-1998軍用通信設備通用規範GJB367A－2001軍用裝備實驗室環境試驗方法第4部分：低（dī）溫試驗GJB150.4A-2009

可靠性環（huán）境試驗項目確定後，按照什麽順序（xù）進行試驗，GJB150-1986、GJB150A-2009和GJB4-1983三項（xiàng）標準（zhǔn）中均有一定的規定。

艦船（chuán）裝備（bèi）的環境試驗基本上是在實（shí）驗室進行（háng），實驗室試驗具有重複性、可再現性。目（mù）前，常用的環境試驗（yàn）軍用標準有GJB150-1986《軍用設（shè）備環境試驗方法》、GJB150A-2009《軍用裝備實驗室環境試驗方法》和（hé）GJB4-1983《艦船電子（zǐ）設備（bèi）環境（jìng）試驗（yàn）》等。

試驗樣品應處於不包裝、不通電和準備工作狀態，並按實船使用狀態將（jiāng）試驗樣品放進（jìn）試驗箱(室)內，然後以每分鍾不超過（guò）1℃的速率將高低溫試驗箱（室）的溫度降到-40+3℃，保溫24小（xiǎo）時。

本標準規定了（le）艦船電子（zǐ）設備的高溫試驗，它是製訂艦船（chuán）電子設（shè）備總技術條件或產品標準等技術（shù）文件相應部分的基礎（chǔ）和選用依據。GJB4.1--83《艦船（chuán）電子設備環境試驗總則》的規定適（shì）用於本標準。