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TCT溫度循環測試箱

TCT溫度循環測試箱

TCT溫度循環測試箱標準(zhǔn)機型有:100L、150L、225L、408L、800L、1000L的(de)內箱尺寸;備注:50L~100L及1000L以(yǐ)上是非標定(dìng)製產品(pǐn),具(jù)體規格參數以方案書為準。低溫可選(xuǎn):-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃和常溫(wēn);高溫可選:+150℃、+180℃、+200℃;濕度範圍有(yǒu):20%~98%RH(非標可選:5%~~98%RH、10%~98%RH)TCT溫(wēn)度循環測試箱適(shì)合電子(zǐ)元器件,半導體IC、芯片、光伏組件,電器,食品,車輛,金屬,化學,建材等工廠,科研單位,院校之用。
<i style='color:red'>芯(xīn)片</i>(IC)可靠性測試好(hǎo)幫手——草莓视频网站儀器HAST試驗箱係列

芯(xīn)片(IC)可靠性測試好幫(bāng)手——草莓视频网站儀器HAST試驗箱係列

芯片是電子信息產品重要的元器件(jiàn),是高端製造業的是核(hé)心基石!幾(jǐ)乎每(měi)種電子設備,電腦、手機、家電、汽車(chē)、高鐵、電網、醫療儀(yí)器、機器人、工業控製等都使用芯(xīn)片。草莓视频网站HAST試驗箱主要應用於芯片、半導體器件、金屬材料(liào)領域,通過爆(bào)米花效(xiào)應、動金(jīn)屬化區域腐蝕造成之(zhī)斷路、封裝體引腳間因汙染造成(chéng)之(zhī)短路等(děng)相關問題。
碳化矽功率器件可靠(kào)性(xìng)之<i style='color:red'>芯片(piàn)</i>研發及封(fēng)裝篇

碳化矽功率器件可靠性之芯(xīn)片研發及封(fēng)裝篇

質量的狹義概念是衡量器件在當前是(shì)否滿足規定的(de)標準要求,即產品性能是否與規格書描述的內容一(yī)致(zhì)。廣義上質量和可靠性有關,可靠性是衡量器件壽命期望值的指標,即通過可靠性結果計算器件能持續多久滿足規範要求。測試(shì)新品(pǐn)器件是否合規比較容易,但判斷器件的物理(lǐ)特征(zhēng)是否會隨時(shí)間和環境而變化比較麻煩。
<i style='color:red'>芯片</i>封裝可靠性試驗專業術語(yǔ)

芯片封裝可靠性試(shì)驗專業術語

芯片(IC)完成整個封裝流程之後,封裝廠會對其(qí)產品進行質量和可靠性兩方麵的檢(jiǎn)測。質量檢(jiǎn)測主(zhǔ)要檢測封裝後芯片(IC)的可用性,封裝後的質量(liàng)和性能情況,而可靠性則是對封裝(zhuāng)的可靠(kào)性相關參數的測試。首先(xiān),我們必須理解(jiě)什麽叫做“可靠(kào)性”,產品的可靠性即產(chǎn)品可靠度的性能,具體表現在產品使用時是否容易出故障,產(chǎn)品使用壽命(mìng)是否合理等。
草莓视频网站儀器半導體<i style='color:red'>芯片</i>HAST試驗(yàn)箱順利通過客戶驗收,實現批(pī)量投產

草莓视频网站儀器半導體芯片HAST試驗箱順利通過客戶驗收,實現批量投產

半導體芯片行業福音,2021年5月(yuè),由東莞(wǎn)市草莓视频网站環境檢測儀器有限公司自主研發的6台HAST試驗箱,經(jīng)客戶(行業某上市公司)測試(shì)試(shì)用,已順利通過驗收;標誌著草莓视频网站儀器該技術成果已成熟穩定,可大規模批量使用!
HAST試驗的特(tè)點與優勢

HAST試驗的特點與優勢

HAST是專為塑(sù)封固態器件而設計的,因為事實證明,高壓蒸煮和THB試驗對於某些健壯的塑封微電路已經不能產(chǎn)生失效。 這一試驗用高溫(通常為130℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件(達3atm)來加速潮氣通過外部保(bǎo)護材料或芯片引(yǐn)線周圍的(de)密封封裝。
<i style='color:red'>芯(xīn)片(piàn)</i>與封裝材料(liào)耐潮性試驗講解

芯片與封裝材料耐潮性(xìng)試驗講解

耐潮性(xìng)試驗是把器(qì)件置於高溫、高濕的環境中(zhōng)受(shòu)試,使潮氣侵人封裝體,以產生如分層和開裂那樣的缺陷。這種試驗(yàn)可識別器件對潮氣引起的應力的敏感度,以便使器(qì)件能適當地封裝、貯存和搬運,以避免機械損傷。高壓鍋、85C/85%RH和HAST試驗就(jiù)是耐潮濕試驗。高加速應力與溫(wēn)度(HAST)試驗(yàn)正在快速地取(qǔ)代85/85試驗。DHAST試驗按JESD22-A110問進行,條件通常為130C,85%RH,250h。
耳聽為虛眼(yǎn)見為實-恒溫恒濕(shī)試驗箱實力廠家

耳聽為虛眼見為實-恒溫(wēn)恒濕試驗箱實力廠家

前不久(jiǔ),廣州某半導體芯片公司的采購陳先生過網絡搜索“恒溫恒濕試(shì)驗箱廠家”找到草莓视频网站儀器。在此前,陳先(xiān)生有想(xiǎng)過和草莓视频网站儀器合作,隻是當時朋友介紹了(le)別的廠家,沒有對草莓视频网站深入的了解(jiě)與合作,這次就是緣分到了。
草莓视频网站HAST半導體<i style='color:red'>芯片</i>加速老(lǎo)化測試技術取得重大突破

草莓视频网站HAST半導體芯片加速老化測試技術取得重大突破

目前,對於半導(dǎo)體芯片的可靠性測試,大多數采(cǎi)用高低溫交變濕熱試驗箱做雙85測試,但其試驗周期(qī)長等缺點嚴重耽誤產品出新的(de)步伐。如何更高地在研發階段提高產品的可靠性,避免殘次品流入半導體芯片成品市場(chǎng),這成為一(yī)個迫切需要解決(jué)的問題。
中科晶上再次選購(gòu)草莓视频网站可程式快速溫變試驗(yàn)箱

中科晶上再次(cì)選購瑞(ruì)凱可程式快速(sù)溫變試驗箱

北京中科晶上科技股份有限公司(sī)在我(wǒ)司(sī)再次訂購可程式快速溫變試驗箱,目(mù)前已正式交付至中科晶(jīng)上指定的使用部門,並完成(chéng)了並完(wán)成了交機指導和驗收等工作。此次,中科晶上(shàng)采購可程式快速溫(wēn)變試驗箱(xiāng)是為了測試芯片(IC)、通訊產品在高溫高濕、高溫貯存、低溫運(yùn)行等環境下的可(kě)靠性能力。

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