目前，在集成電路（lù）ic領域（yù），環（huán）境（jìng）可靠（kào）性測試（shì）設備主要有高低溫試（shì）驗箱以及（jí）HAST試驗箱。但為什麽HAST試驗箱會（huì）成為集成電路ic可靠性測試的佳選呢？這由於HAST試驗箱結合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下（xià）加速濕氣滲透到外外部保護物料（塑封（fēng）料或絲印）或沿外保護物料（liào）與金屬導（dǎo）電（diàn）層（céng）之間界麵滲入，本測試用於識別封裝內部的失效機製，並且是破壞性的。