目前，在集成電路ic領域，環境可靠性測試設備主（zhǔ）要有高低溫試驗箱以（yǐ）及HAST試驗箱。但（dàn）為什麽HAST試驗（yàn）箱會成為集成電路ic可靠性測試（shì）的佳選呢？這由於HAST試驗箱結合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下加速濕（shī）氣滲透到外外部保護物料（塑封料或絲印）或沿外保護物（wù）料與金屬導電層之間（jiān）界麵滲入，本測試用於識別封裝內部的失效機製，並且是破壞性的。