【高低溫試驗箱】解決高低溫試驗箱油濾（lǜ）罐發生異常的方法

高（gāo）低溫試（shì）驗（yàn）箱是一款多用於（yú）進行地理（lǐ）環境（jìng）試驗的機械設備，該機也可以仿真模擬貨箱自（zì）然環境，以檢驗硫化橡膠（jiāo）、塑膠在高溫高低溫下，退色、收攏的情況。實驗各種各樣原材料耐高溫、耐低溫（wēn）、耐幹、抗濕能。合（hé）適電子器件、家用電器、充電電池、高校、研究室、檢驗檢疫、紙製品、食品類、車（chē）子、汽車配件零部（bù）件、金屬材料、有......

【高低溫濕熱試驗（yàn）箱】高低溫濕（shī）熱（rè）試（shì）驗箱是怎麽控製溫濕（shī）度的？

熱測試箱（xiāng）用以各種各樣電子（zǐ）器件，電（diàn）氣（qì）設備，塑膠和別的原料和設備的（de）抗寒性，耐溫性，耐濕性和偏幹測試。它尤其適用金屬，LED，充電電池，電子計算（suàn）機，結晶，電感，PCB，手機（jī）和其它商品的耐熱，抗低溫，耐（nài）寒濕循環係統測試（shì）。濕熱（rè）試驗箱是航空公司，車輛，電器產品，科學（xué）研究等方麵的必需實驗設（shè）備。通過持續高溫，超低溫......

光電（diàn）子（zǐ）器件環境可靠性試驗方法

電子器件可靠性評估是指對電子器件產品、半成品或模擬樣（yàng）片（各種測試結構圖形），通過（guò）各種可（kě）靠性（xìng）評價（jià）方法，如可靠性試驗、加速壽命試驗和快速評價技術等，並運用數理統計工具和有關模擬仿真軟件來評定其壽命、失效率或可靠性質量等級。下麵，草莓视频网站儀器整理了光電子器件（jiàn）環境可（kě）靠性的（de）試驗方法供給大家參考。

5G蓄勢待發，瑞（ruì）凱儀器HAST試驗箱助（zhù）力電子器件行業提升品質

在（zài）電子設備輕薄化、微型化、可折迭化的趨勢下，電（diàn）子器件的需求日益旺盛（shèng），其測試（shì）要求、品質要求也在不斷的提高，在5G來臨的時代，草莓视频网站儀（yí）器（qì）也順勢推出HAST試驗箱。

慕尼（ní）黑電子展2021-草莓视频网站精（jīng）彩亮相上海，賦能5G新時（shí）代

一（yī）年一度的電子行業盛會——2021慕尼黑上海電子展已於今日（2021年4月14日）盛大開幕啦！擁有近90,000平方米展示麵積，吸引超1400家國內外優秀（xiù）企業參展，為業界充分展示了智能時代電子信息產（chǎn）業新發展成果與趨勢，打造國際化電子（zǐ）信息領域展示平台。作為5G半導體和汽（qì）車電子器件行（háng）業優（yōu）秀的環境可靠（kào）性（xìng）測試設備專業製造商，東莞市草莓视频网站環（huán）境檢測儀器有限公司（以（yǐ）下簡（jiǎn）稱：草莓视频网站儀器、公（gōng）司）攜新產品、新技術精彩亮（liàng）相，與行業精英共享電子信息產業盛會。

微電子器件老化篩選測試流程（chéng）

艦船通用微電（diàn）子器件的老化篩選項月，一般都與個或多個故障模代有關。所以其老化篩選的順序大有講究，本文推薦（jiàn）的艦船通用微電子器件老化篩選順序（流程）是：常溫（wēn）初測、低溫測試、高溫測試、高低溫衝擊動（dòng）態老化/高溫（wēn）存儲（chǔ）檢漏常溫終測這裏的/是條件或。即如果已做（zuò）動態老化，高溫存儲可省：如（rú）果由於條（tiáo）件限製做（zuò）不了動態老化（huà），那麽可用高溫存（cún）儲作補償（cháng）性篩選。

微電子器件常用的低氣壓試驗標準

通常，微電子器件產品使用如下幾個低氣壓試驗標準: 1）CJB150.2A-2009《軍用（yòng）裝備實（shí）驗室環境（jìng）試驗方法第二部分低氣壓（高度）試驗》；2）GJB360B-2009《電子及電氣元件試（shì）驗方法方法105低氣壓試驗》（等效美軍標MIL-STD-202F）；3）GJB548B-2005《微電子器件試驗方法和程序方法1001低氣壓（yā）（高空作業）》（等效美軍（jun1）標MIL-STD-883D）；

R-TH-80B恒溫恒濕試驗箱規格（gé）介紹（R-PTH-80B）

R-TH-80B恒溫恒濕試驗箱主要為各種工業製品在研發、生產、檢驗等各環節的試驗提供恒定濕熱及高低溫交變（濕熱）等（děng）試驗環境和試驗條件。可滿足電子器件、機電產品、材料能（néng）源、醫藥（yào）化工到汽車航天等行業的廣泛需求。

溫度對大功率LED可靠性的影響

對於LED這類超長壽命的電子器件，通常使用比正常使用時所（suǒ）預期的溫度更高（gāo）的溫（wēn）度來進行可靠性試驗，即加速試驗。施（shī）加的（de）加速條件會使潛在的缺（quē）陷或者設計的薄弱環節在較（jiào）短的（de）時間內發展為實際的失（shī）效（xiào），確認溫度（dù）可能導（dǎo）致的失效的形式和機（jī）製。

電子元器件濕熱試驗資料大全

 濕熱試驗包括穩態濕熱試驗和耐濕試驗，對電子元器件可靠性考核一般進（jìn）行耐濕試驗。目前，與元器件相關的耐濕試（shì）驗常用標準有以（yǐ）下幾種：GJB360B—2009《電子及電氣元件試驗方法》中涉及濕熱試驗的有“穩態濕熱試驗”和“耐濕試（shì）驗”。GJB548B—2005《微電子器件試（shì）驗（yàn）方法和（hé）程序》中涉及“耐濕試驗”。在GJB128A—1997《半導體分立（lì）器（qì）件試驗方法》中涉及（jí）有“耐濕試驗”。其試驗目的是評定電子元（yuán）器件材（cái）料的耐濕性能。