HAST試驗箱用於評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料（liào）等在（zài）濕度環境下的可靠性（xìng）。通過溫度、濕度、大氣壓力條（tiáo）件下應用（yòng）於（yú）加速濕氣的滲透，可通過外部保護材料（塑（sù）封料或封口），或在外部保護材料與金屬（shǔ）傳導材（cái）料之間界麵。它采用了嚴格的溫度，濕度（dù），大氣壓、電（diàn）壓條件，該條件會加速水分滲透到材料內部與金屬導體（tǐ）之間的電化學反應。