高溫貯存試驗通常用於確定貯存條件下時間（jiān）和溫度對熱故障機製的影（yǐng）響（xiǎng），以及固態（tài）電子設備（包括非易失性存儲設（shè）備）的時間-故障分（fèn）布（數據保留故障重建機（jī）製）。在試（shì）驗過程中，在不施加電氣條（tiáo）件（jiàn）的情況下，使用加速（sù）應力溫度，根據時間、溫度和包裝（如有），利用（yòng）阿倫尼烏斯加速方程建立（lì）了（le）熱失效機理模型。