因為目（mù）前的測試方式都不足（zú）以（yǐ）代表完（wán）整LED芯片的使用壽命和需花費冗長的時間。因此，有（yǒu）其他的團隊開始研究加速壽命測試方式和壽命推估模型，而Highlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)是目前有可能拿來做加速壽命推估的測試方法。