老煉試驗的目的是為了篩選或剔除那些勉強合格的器件。這些器件或是本身具有固有的缺陷或（huò）者其缺陷產生於製造工藝的控製不當，這些缺陷會造成與時間和應力有關的失效（xiào）。如不進行老（lǎo）煉試驗，這些有缺陷的器件在使用條件下會出現初期致命失效或早期壽命失效。

樣品應放於（yú）冷熱衝擊試驗箱中的（de）合適位置，使液體在樣品周圍的流動不應受到阻礙，然（rán）後根據表2的規定，使負載進行（háng）條件B或其他規定的試驗條件進行15次循環。在完成規定試驗總（zǒng）循環數期間，為了進（jìn）行器件（jiàn）批的加載或（huò）去（qù）載，或由於電源或設備故障，允許中（zhōng）斷試驗。

本試驗的（de）目的是測定mems器件承受高溫和低（dī）溫（wēn）的能力（lì），以及高溫與低溫交替變（biàn）化對器件（jiàn）的（de）影響。

微光機電係統(MicroElectroMechanicalSystems-——MEMS)，以下簡稱MEMS。MEMS是融合了矽微（wēi）加工、LIGA(光刻、電（diàn）鑄（zhù）和塑鑄（zhù）)和精密機械加工（gōng）等多（duō）種微加工技術，並應用現代信息（xī）技術構成的微型係統。它在微電子技術的基礎上（shàng）發展起來的，但又區別於微電子技術（shù）。它包括感知外界信息(力、熱、光、磁、電、聲等)的傳感器和控製對象的執行器，以及進行信號處理和控製的電路。mems器件和傳統的機器相比，具有體積小、重量輕、耗能低、溫（wēn）升小、工作（zuò）速度快、成本（běn）低、功能強、性能好等特點。