草莓视频网站:打造檢測儀器行業的民族品(pǐn)牌
您的位置: 首頁 > 全站搜索

搜索結果

塑封半導體器件<i style='color:red'>thb</i>試驗

塑封(fēng)半導體(tǐ)器件thb試驗

thb試驗是考核塑封器件耐濕性常用的加速試驗方法,一般在高溫(wēn)高濕試驗箱中進行。通過提高環境溫(wēn)度及相(xiàng)對(duì)濕度(dù),使試驗環(huán)境(jìng)的水汽分壓增加,加(jiā)大了試驗環境與塑封半導體器件樣品內部(bù)的(de)水蒸氣壓力差,進而加劇水汽擴散和吸收:同時施(shī)加偏置電壓為加速金屬侵蝕提供了必要的電解電池。加速金(jīn)屬侵蝕的原因還有:塑封器(qì)件所用不同材料的熱失配使封裝體內產生縫隙加(jiā)速水汽的侵入;封裝材料中的雜質汙染等。
HAST試驗的特點與優勢

HAST試驗的特點與優勢

HAST是專為(wéi)塑封固態器件而設計的,因為事實證明,高(gāo)壓蒸煮和(hé)thb試驗(yàn)對於某些健壯的塑封微電路已經不能產生失效。 這(zhè)一(yī)試驗用高溫(通常為130℃)、高相對濕度(約85%)、高大(dà)氣壓力(lì)的條件(達3atm)來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝。

東莞市草莓视频网站環境檢測儀器有限公司 版權所有

備案號:粵ICP備11018191號

谘詢(xún)熱線:400-088-3892 技術支持:草莓视频网站儀器 百度統計

聯係我們

  • 郵箱:riukai@tuyatang.com
  • 手機:189 3856 3648
  • 座機:0769-81019278
  • 公司地址:東莞市橫瀝鎮神樂一(yī)路15號

關注我們

  • <a id=" src="resource/images/ee6ddfa37b974b8ab546b9456ceeac2a_2.jpg" title="">客服(fú)微信
网站地图 草莓视频网站-草莓污视频-草莓视频CAOMEI888-草莓视频www.5.app最新ios版